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用于改善均方根(RMS)测量的系统和方法

摘要

本发明涉及用于通过降低RMS测量中的误差来改善利用均方根(RMS)测量(例如,RMS电流测量)的计算机或其他电子设备的操作的系统和方法。在处理器处接收一系列测量样本,该处理器执行噪声去相关的RMS算法,该算法包括:通过将测量样本乘以系列中的先前测量样本来计算每个测量样本的电流平方值(而不是如在常规技术中那样简单地对每个测量样本求平方),对电流平方值求和,以及基于求和的值来计算RMS值。处理器还可执行频率依赖性幅值校正滤波器以校正与噪声去相关的RMS算法相关联的频率依赖性衰减。计算的RMS值具有降低的误差,尤其是对于更低端的电流测量而言,这可改善利用RMS值的计算机或电子设备的操作。

著录项

  • 公开/公告号CN111033278A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 微芯片技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201880054871.8

  • 发明设计人 D·A·斯塔弗;

    申请日2018-10-31

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人陈斌

  • 地址 美国亚利桑那州

  • 入库时间 2023-12-17 10:20:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R19/02 申请日:20181031

    实质审查的生效

  • 2020-04-17

    公开

    公开

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