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一种紫外辐照度计低值校准装置及校准方法

摘要

本申请涉及一种紫外辐照度计低值校准装置及校准方法,装置包括光学平台、位于光学平台上的三套校准基本单元和一个标准紫外辐照度计;每套校准基本单元包括位于同一直线上依次排列的紫外光源、精密光阑、盲板、滤光片组、衰减片组;三套校准基本单元的紫外光源分别为位于中间位置的第一紫外光源、位于后方的第二紫外光源和位于前方的第三紫外光源;三个非相干的紫外光源发射出的光经精密光阑、滤光片组、衰减片组后汇聚于标准紫外辐照度计接收器中心,被校紫外辐照度计放置与中间位置衰减片组后面,被校紫外辐照度计与衰减片组中心在同一水平线上。本申请校准设备少,无光轨等设备,操作简单、成本低,装置体积小,可携带进行现场计量。

著录项

  • 公开/公告号CN111323119A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国电子技术标准化研究院;

    申请/专利号CN202010272818.4

  • 发明设计人 阚劲松;徐迎春;刘冲;褚楚;王酣;

    申请日2020-04-09

  • 分类号

  • 代理机构北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人任欣生

  • 地址 100176 北京市大兴区经济技术开发区同济南路8号

  • 入库时间 2023-12-17 09:25:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/02 申请日:20200409

    实质审查的生效

  • 2020-06-23

    公开

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