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计量级3D超景深显微系统及检测方法

摘要

本发明公开了一种计量级3D超景深显微系统及检测方法,涉及光电无损3D检测技术领域;该显微系统包括光学显微镜、光谱共焦传感器或白光干涉传感器、xyz轴电动位移平台以及控制模块和PC处理器;xyz轴电动位移平台包括xy轴平移台和z轴升降模块,光学显微镜配置有照明光源和图像采集单元,控制模块包括xyz电动控制单元、与光谱共焦传感器或白光干涉传感器连接的处理器及电源模块,图像采集单元用于采集目标检测区域的图像信息,并将图像信息传输至PC处理器;通过实施本技术方案,能够无损观察样品,并能够超大面积对材料表面的微观状态进行拍照、3D真彩色成像及3D精准测量,实现计量级的检测精度,并保有微观样品的细节与真实颜色,具有很好的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN111256616A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 阳宇春;孙亮;

    申请/专利号CN202010235505.1

  • 发明设计人 阳宇春;孙亮;

    申请日2020-03-30

  • 分类号

  • 代理机构成都九鼎天元知识产权代理有限公司;

  • 代理人管高峰

  • 地址 610000 四川省成都市青羊区博瑞都市花园28-3-502

  • 入库时间 2023-12-17 09:16:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20200330

    实质审查的生效

  • 2020-06-09

    公开

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