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通过灰度图像测量锡球高度的方法

摘要

本发明公开了一种通过灰度图像测量锡球高度的方法,通过主动三维传感器获取PCB板表面的高度数据,再将获取的高度数据转化为灰度值,得到灰度图像;再利用阈值分割的方法从所述灰度图像中提取锡球的区域;然后确定锡球的质心坐标,并根据锡球的质心坐标反推锡球的高度数据。本发明通过将高度数据转换为灰度图像,降低了分析和处理数据的难度,直观地将高度数据以图像的形式表现出来,极大地提高了锡球高度数据测量的效率;且本发明的测高方法可以应用于表面不规则的物体,且不受噪声干扰的影响,检测精度更高。

著录项

  • 公开/公告号CN111174704A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉华工激光工程有限责任公司;

    申请/专利号CN201911172034.8

  • 发明设计人 吴巍;路清彦;王雪辉;

    申请日2019-11-26

  • 分类号

  • 代理机构南京纵横知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐瑛

  • 地址 430000 湖北省武汉市东湖开发区华中科技大学科技园激光产业园

  • 入库时间 2023-12-17 09:16:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20191126

    实质审查的生效

  • 2020-05-19

    公开

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