用于RAM错误检测逻辑的自诊断的方法和装置

摘要

本公开涉及用于RAM错误检测逻辑的自诊断的方法和装置。用于动力总成控制器的RAM错误检测逻辑的自诊断的方法包括：对于应用了多内核型微控制器单元(MCU)的动力总成控制器的RAM错误检测逻辑的自诊断，通过多个内核的第一内核闲置第二内核的操作并且对与结合第二内核操作的RAM相对应的纠错码(ECC)模块执行测试，并且通过第二内核闲置未被执行测试的多个内核当中的一个内核的操作，并且对与结合相应的内核操作的RAM对应的ECC模块执行测试。