首页> 中国专利> 基于扫描电镜背散射模式下的纳米析出物图像获取方法

基于扫描电镜背散射模式下的纳米析出物图像获取方法

摘要

本发明提供了一种基于扫描电镜背散射模式下的纳米析出物图像获取方法,该方法包括如下步骤:样品预处理、电解双喷减薄、低温侵蚀、扫描电镜拍摄,得到纳米析出物形貌图像。本发明通过降低样品厚度,实现了提高样品导电性能,降低磁性影响的目的,从而提高了扫描电镜下钢材料中纳米析出物图像的成像质量,相比于传统制样与拍摄方法,可以得到更高倍数、更为清晰的图像,对析出物形貌观察与尺寸、分布统计具有一定意义。

著录项

  • 公开/公告号CN111220637A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京科技大学;

    申请/专利号CN202010048522.4

  • 申请日2020-01-16

  • 分类号G01N23/2202(20180101);G01N23/2251(20180101);

  • 代理机构11401 北京金智普华知识产权代理有限公司;

  • 代理人皋吉甫

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路30号

  • 入库时间 2023-12-17 08:59:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/2202 申请日:20200116

    实质审查的生效

  • 2020-06-02

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号