一种X射线荧光光谱分析铁合金用样片制备方法

摘要

本发明涉及一种X射线荧光光谱分析铁合金用样片制备方法，1)试样处理：铁合金试样研磨到0.074mm以下，干燥；2)称量0.1000‑0.2000g试样于铂金坩埚中，加水润湿，加入5‑10ml硝酸(1+1)，缓慢滴加氢氟酸至试样完全溶解；3)加入3.000‑5.000g四硼酸锂于铂金坩埚内在40‑50℃加热烘干；4)试样放入熔融炉内，加入饱和硝酸钾溶液0.5‑1ml，加入分析纯溴化锂0.1000‑0.1500g，升温750‑800℃预热10‑15min，继续升温1100‑1150℃熔融，熔融10‑15min，升温熔融过程不断摇摆试样；5)熔融试样倒入铂金坩埚模具内冷却成型，制成玻璃片。本发明提高铌铁的检测速度，准确度高。