首页> 中国专利> 一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法及其成像设备

一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法及其成像设备

摘要

一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法,包括以下步骤:S100:获得目标的紫外放电图像,所述紫外放电图像至少包括:目标的紫外图像信息以及目标的可见光图像信息的合成信息;S200:对所述紫外放电图像提取紫外光斑轮廓,其中,提取的原则包括:删除小面积的连通域的干扰项;S300:对紫外光斑轮廓内的空间光子密度计算;S400:根据预先实验统计所得到的紫外光子的衰减曲线,对所述空间光子密度进行校准。

著录项

  • 公开/公告号CN111157110A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海电气输配电试验中心有限公司;

    申请/专利号CN202010043903.3

  • 发明设计人 罗时聪;郭丽萍;赵庆;赵文彬;

    申请日2020-01-15

  • 分类号

  • 代理机构北京前审知识产权代理有限公司;

  • 代理人张波涛

  • 地址 200001 上海市静安区灵石路696号

  • 入库时间 2023-12-17 08:38:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/42 申请日:20200115

    实质审查的生效

  • 2020-05-15

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号