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单芯片集成型光谱成像微系统光谱数据校正方法

摘要

本发明属于光谱成像技术领域,具体涉及一种单芯片集成型光谱成像微系统光谱数据校正方法。所述校正方法包括:步骤1:完成底层校正算法的设计;步骤2:根据底层校正算法计算校正矩阵;步骤3:将校正矩阵作用于光谱成像微系统输出光谱数据,得到校正后结果。本发明相对于现有迭代校正的技术方法,从硬件结构特性出发,提高了光谱成像微系统的光谱数据准确度。同时,减小校正矩阵对参考目标光谱数据的依赖性,对于不同的实际场景下应用均适用。底层校正算法的引入,初步解决了光谱成像微系统硬件结构及固有特性带来的影响光谱准确因素对光谱数据的影响问题,提高了光谱成像微系统光谱数据准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN111024229A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津津航技术物理研究所;

    申请/专利号CN201911190015.8

  • 申请日2019-11-28

  • 分类号

  • 代理机构中国兵器工业集团公司专利中心;

  • 代理人周恒

  • 地址 300308 天津市东丽区空港经济区中环西路58号

  • 入库时间 2023-12-17 08:30:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/12 申请日:20191128

    实质审查的生效

  • 2020-04-17

    公开

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