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薄片试样制作装置以及薄片试样制作方法

摘要

薄片试样制作装置(1)具备会聚离子束照射光学系统(14)、载台(12)、载台驱动机构(13)以及计算机(22)。会聚离子束照射光学系统(14)照射会聚离子束(FIB)。载台(12)保持试样片(Q)。载台驱动机构(13)驱动载台(12)。计算机(22)在试样片(Q)中设定作为加工区域的薄片化区域和包围薄片化区域的整周的周缘部。计算机(22)使得从与试样片(Q)的被照射面交叉的方向照射会聚离子束(FIB),通过蚀刻加工将薄片化区域的厚度形成得比周缘部的厚度薄。

著录项

  • 公开/公告号CN111065907A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本株式会社日立高新技术科学;

    申请/专利号CN201980004416.1

  • 发明设计人 中谷郁子;

    申请日2019-02-28

  • 分类号G01N1/28(20060101);G01N1/32(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人崔成哲;黄纶伟

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 08:30:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-24

    公开

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