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FPGA功能测试方法及装置

摘要

本发明实施例提供了一种FPGA功能测试装置,其特征在于,包括上位机和FPGA功能测试板;其中,上位机运行有上位机软件,用于配置FPGA,显示自测试结果;上位机上存储有用于FPGA功能测试的自测试程序;FPGA功能测试板上设置有接口芯片与待测的FPGA,所述接口芯片分别与上位机和待测的FPGA连接,用于接收由上位机传送的自测试程序,并将自测试程序配置至待测FPGA上,开启测试,并将FPGA的测试结果回传至上位机软件。

著录项

  • 公开/公告号CN111090039A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海精密计量测试研究所;

    申请/专利号CN201911081430.X

  • 申请日2019-11-07

  • 分类号

  • 代理机构上海航天局专利中心;

  • 代理人余岢

  • 地址 201109 上海市闵行区元江路3888号

  • 入库时间 2023-12-17 08:08:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/3185 申请日:20191107

    实质审查的生效

  • 2020-05-01

    公开

    公开

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