模型错例的分析方法、装置及电子设备

摘要

本发明涉及模型错例的分析方法、装置及电子设备。该方法包括：获取错例集，错例集包括多个错判图像，多个错判图像均为基于同一模型的错判案例，模型为使用多个第一样本图像通过机器学习训练得出；提取每个错判图像的特征数据；根据特征数据，获取每个错判图像在错例集中的最相似图像，确定任意两个错判图像之间是否存在最相似关系；根据最相似关系对错例集进行聚类，得到聚类结果，聚类结果包括至少一个团簇，每个团簇对应多个错判图像。