法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-04-17
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20191108
实质审查的生效
2020-03-24
公开
公开
机译: 缺陷检测方法,缺陷检测方法,缺陷检测设备,缺陷检测设备,缺陷检测程序和用于记录程序的记录介质
机译: 基于CZ方法的冷却器配备的硅单晶硅单晶硅上拉器件,通过Dashneck方法改善了缺陷的位移,改进了基于CZ方法的硅单晶硅的上拉器件,并提供了基于COLOLE的COOL焊点,并在直径上增加了尺寸
机译: 材料缺陷检测装置,材料缺陷检测系统,材料缺陷检测方法和非暂时性计算机可读存储介质