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标准单元测试电路版图及其优化方法、标准单元测试结构

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摘要

一种标准单元测试电路版图及其优化方法、标准单元测试结构，标准单元测试电路版图包括：第一待测单元电路；第一待测单元电路包括：若干级第一标准单元；若干级第一标准单元排列成Y

1. 标准单元测试电路版图及其优化方法、标准单元测试结构 [P] . 中国专利： CN110888038B . 2021.12.14
2. 标准单元测试电路版图及其优化方法、标准单元测试结构 [P] . 中国专利： CN110888038A . 2020-03-17
3. STANDARD CELL DESIGN SYSTEM, STANDARD CELL DESIGN OPTIMIZATION METHOD THEREOF, AND SEMICONDUCTOR DESIGN SYSTEM [P] . 韩国专利： KR20200030428A . 2020-03-20

机译：标准单元设计系统，标准单元设计优化方法以及半导体设计系统
4. STANDARD CELL DESIGN SYSTEM, STANDARD CELL DESIGN OPTIMIZATION METHOD THEREOF, AND SEMICONDUCTOR DESIGN SYSTEM [P] . 美国专利： US2020082051A1 . 2020-03-12

机译：标准单元设计系统，标准单元设计优化方法以及半导体设计系统
5. Standard cell design system, standard cell design optimization method thereof, and semiconductor design system [P] . 美国专利： US10796068B2 . 2020-10-06

机译：标准单元设计系统，标准单元设计优化方法和半导体设计系统