曲面光学薄膜元件反射率测量方法

摘要

本发明属光学薄膜元件参数测量领域，尤其涉及一种曲面光学薄膜元件反射率测量方法，按如下步骤实施：a、开启恒流光源，测试参数设置；b、进行标准标定；c、恒流光源发出的光经过聚焦后进入光纤接收端；经过光纤透镜后形成出射平行光，平行光进入光学积分器，并按照某一角度入射到待测试曲面光学薄膜元件表面，光线经过镜面反射后进入光学积分器，通过光学积分器匀光后经光学积分器出射口进入接收光纤，再进入CCD探测器并由计算机进行处理最终获得光谱反射数据。本发明可解决角度不同光线难以全部收集问题，反射率测试准确，可保证测试不同曲率半径。