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一种高精度物体几何尺寸测量方法及装置

摘要

本发明提供了一种高精度物体几何尺寸测量方法及装置,在深度相机移动的过程中,通过配准当前帧的彩色图和上一帧的彩色图的特征来计算当前帧的深度图和上一帧的深度图的空间变换位姿,并将基于该空间变换位姿变换后的当前帧的深度图融合至TSDF模型中,直到深度相机移动结束获得TSDF模型输出的三维空间模型,进一步从该三维空间模型中获取深度相机当前视角下的目标深度图,基于该目标深度图中分割出的空间对象的子深度图和背景地面的子深度图来计算空间对象的几何尺寸。本发明通过多帧融合方式解决了由于相机本身视角限制无法测量超大物体进行几何尺寸的问题,提高了测量精度,方便实用。

著录项

  • 公开/公告号CN110793441A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京华捷艾米科技有限公司;

    申请/专利号CN201911070175.9

  • 发明设计人 王蒙蒙;李骊;

    申请日2019-11-05

  • 分类号G01B11/00(20060101);G06T7/55(20170101);G06T7/73(20170101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人温可睿

  • 地址 100193 北京市海淀区东北旺西路8号院数字山谷A区1号楼5层

  • 入库时间 2023-12-17 06:09:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20191105

    实质审查的生效

  • 2020-02-14

    公开

    公开

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