首页> 中国专利> 在镀层过程中测量镀层厚度的方法及镀层设备

在镀层过程中测量镀层厚度的方法及镀层设备

摘要

本申请公开了一种在镀层过程中测量镀层厚度的方法及镀层设备,该镀层设备包括:第一称重装置,用于测量待作业的产品的重量;镀层装置,用于加工待作业的产品,以在待作业的产品上形成镀层;第二称重装置,用于测量作业后的产品的重量;数据处理装置,与第一称重装置、第二称重装置连接,用于通过待作业的产品的重量、作业后的产品的重量、镀层的总覆盖面积,计算出镀层的厚度,通过该镀层设备,能够在镀层过程中自动地监控镀层的厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN110686636A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深南电路股份有限公司;

    申请/专利号CN201810738262.6

  • 发明设计人 谷新;王亮;

    申请日2018-07-06

  • 分类号G01B21/08(20060101);C25D21/12(20060101);

  • 代理机构44280 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人钟子敏

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区侨城东路99号

  • 入库时间 2023-12-17 06:00:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B21/08 申请日:20180706

    实质审查的生效

  • 2020-01-14

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号