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监视半导体制造过程的非暂时性计算机可读介质和方法

摘要

一种用于监视半导体制造过程的非暂时性计算机可读介质包括具有人工神经网络的图像转换模型。所述图像转换模型当被执行时使处理器接收半导体晶片的第一图像和第二图像。通过以下操作来训练所述人工神经网络:输入表示所述第一图像和所述第二图像的数据集,生成所述半导体晶片的转换图像,以及校准所述人工神经网络的权重和偏置以使所述转换图像与所述第二图像相匹配。基于所述人工神经网络的经校准的权重和偏置来生成所述半导体晶片的第三图像。带有经训练的人工神经网络的图像转换模型可以被发送给另一设备以用于低分辨率图像的图像转换。

著录项

  • 公开/公告号CN110895808A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN201910825087.9

  • 发明设计人 林春植;崔太林;金容德;

    申请日2019-08-30

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人倪斌

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2023-12-17 05:56:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-20

    公开

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