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公开/公告号CN110895808A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-03-20
原文格式PDF
申请/专利权人 三星电子株式会社;
申请/专利号CN201910825087.9
发明设计人 林春植;崔太林;金容德;
申请日2019-08-30
分类号
代理机构中科专利商标代理有限责任公司;
代理人倪斌
地址 韩国京畿道
入库时间 2023-12-17 05:56:34
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-03-20
公开
机译: 非暂时性计算机可读介质和用于监控半导体制造过程的方法
机译: 制造过程管理系统,制造过程管理方法和记录制造过程管理程序的非暂时性计算机可读记录介质
机译: 制造过程管理系统,制造过程管理方法和非暂时性计算机可读介质记录制造过程管理程序
机译:研究人员提交了专利申请“三维测量设备,模型生成设备,其处理方法和非暂时性计算机可读存储介质”以供批准。
机译:专利申请批准过程中的“节点设备,信息通信方法和计算机可读记录介质”
机译:专利申请批准过程中的“核酸检测装置,方法和计算机可读记录介质”
机译:一种有效的SPC方法来监视具有多个变化源的半导体制造过程
机译:使用偏最小二乘方法在多阶段制造过程中进行过程监视和预测分析。
机译:半导体和金属材料的非晶纳米孔结构计算机建模的新方法:综述
机译:非晶半导体的结构和电子结构的计算机模拟。 =非晶半导体的结构和电子结构的计算机模拟。
机译:用于在多个离散图像之间导航的方法和计算机可读介质。