法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-02-25
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/28 申请日:20190904
实质审查的生效
2020-01-24
公开
公开
机译: 用于测量岩石样本光谱反射率的系统,能够使用多光谱或超多光谱图像进行地质调查和资源观测
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 遥感观测到的高光谱和超光谱数据错误的精确校准