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用于确定故障DUT天线的方法以及测量系统

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公开了一种通过采用测量天线阵列(12)来识别至少两个DUT天线(14)之间的性能偏差以确定故障DUT天线(14)的方法。经由所述测量天线阵列(12)在被分配给至少两个DUT天线(14)的区域中设置第一预定耦合分布(22)。测量用于第一耦合分布(22)的至少一个操作参数。然后，经由所述测量天线阵列(12)在被分配给至少两个DUT天线(14)的区域中设置第二预定耦合分布(24)。测量用于第二耦合分布(24)的至少一个操作参数，并且基于至少一个操作参数的测量结果来识别至少两个DUT天线(14)之间的性能偏差。此外，公开了一种测量系统(10)。

著录项

公开/公告号CN110873825A

专利类型发明专利
公开/公告日2020-03-10

原文格式PDF
申请/专利权人罗德施瓦兹两合股份有限公司;
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申请/专利号CN201811018336.5
发明设计人亚当·坦凯伦;科比特·罗威尔;
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申请日2018-09-03
分类号
代理机构北京品源专利代理有限公司;
代理人王小衡
地址德国慕尼黑
入库时间 2023-12-17 05:09:59

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法律状态
2020-03-10

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