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一种基于霍夫变换和YOLOv3网络的绝缘子缺损检测方法

摘要

本发明涉及一种基于霍夫变换和YOLOv3网络的绝缘子缺损检测方法,包括以下步骤:步骤S1:获得训练集和测试集;步骤S2:利用训练集训练输出四层尺度的YOLOv3网络,得到优化YOLOv3网络;步骤S3:将测试集输入优化YOLOv3网络,验证优化YOLOv3网络;步骤S4:基于霍夫变换后的待检测绝缘子图像和优化YOLOv3网络,进行绝缘子缺损检测。与现有技术相比,避免了传统人力巡检难的问题和人工特征设计难的问题;解决了拍摄到的图像有倾角的问题;可以满足绝缘子缺损小目标检测精度的要求。

著录项

  • 公开/公告号CN110838112A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海电机学院;

    申请/专利号CN201911085665.6

  • 申请日2019-11-08

  • 分类号

  • 代理机构上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人王怀瑜

  • 地址 200240 上海市闵行区江川路690号

  • 入库时间 2023-12-17 06:30:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20191108

    实质审查的生效

  • 2020-02-25

    公开

    公开

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