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公开/公告号CN104757988A
专利类型发明专利
公开/公告日2015-07-08
原文格式PDF
申请/专利权人 重庆大学;
申请/专利号CN201510222456.7
发明设计人 王珏;刘丰林;邹永宁;
申请日2015-05-04
分类号A61B6/03(20060101);G01N23/04(20060101);
代理机构11275 北京同恒源知识产权代理有限公司;
代理人廖曦
地址 400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
入库时间 2023-12-17 06:30:06
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-08-08
授权
2015-08-05
实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20150504
实质审查的生效
2015-07-08
公开
机译: 在CT扫描系统中接收和发送未处理数据的方法和CT扫描系统
机译: CT扫描系统及在CT扫描系统中收发原始数据的方法
机译: CT扫描系统以及在CT扫描系统中接收和传输原始数据的方法
机译:采用液面自组织的方法在洁净的玻璃片表面铺设单层六方密排的聚苯乙烯胶体球阵列,通过改变等离子 刻蚀的时间实现对胶体小球的直径控制,结合离子溅射Au膜和磁控溅射MoO2膜,最终构筑成为一种新颖的MoO2/Au微纳阵列结构,利用扫描电镜对所合成材料进行形貌表征;同时重点利用接触角测量仪对 微纳阵列薄膜的浸润性进行研究,分析水在微纳阵列表面所形成的接触角的角度变化,结果显示沉积 MoO2/Au微纳阵列比相应的Au微纳阵列更加亲水,有利于材料在水溶液中进行电化学反应。
机译:使用微焦点X射线计算机断层扫描(CT)对日本神道教木雕艺术品进行的无损年代学研究综述了两种扫描不同大小物体的方法
机译:基于密码支架的分叉方法的优点和局限性:使用微焦点CT扫描进行体外评估。
机译:使用带有微焦点管的3D X射线断层扫描系统分析复杂结构
机译:扫描电子显微镜中同时进行的明场和暗场扫描透射电子显微镜:一种分析聚合物系统形态的新方法。
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机译:用于多功能复合材料三维微结构表征的X射线微计算机断层扫描系统。