一种基于Pockels效应的电场强度测量系统

摘要

本发明涉及一种基于Pockels效应的电场强度测量系统，包括沿光路依次设置的起偏器、1/4波片、Pockels晶体和检偏器；起偏器与检偏器二者偏振方向正交；还包括光源、光纤以及后处理单元；所述光纤包括入光侧光纤和出光侧光纤；后处理单元包括相互连接的光电探测仪和示波器。本发明提出了一种关于传统光学分立器件难以实用化的解决方案，将测量系统的相关元件(起/检偏器、1/4波片、Pockels晶体、光纤准直器等)胶装后形成Pockels探头。本发明解决了传统的基于分立光学器件不易控制光路且易受到外界条件干扰、系统稳定性差等诸多问题，有助于促进光学电场测量技术向实际应用方向转化，推动电场测量技术的发展。