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对222Rn、220Rn子体ɑ衰变探测效率的刻度方法

摘要

一种对222Rn、220Rn的子体ɑ衰变探测效率的刻度方法,它是对三个固体核径迹探测器表面分别加不同厚度阻挡膜后对222Rn、220Rn的不同子体ɑ衰变探测效率进行刻度,对于222Rn子体,固体核径迹探测器主要测量218Po、214Po衰变产生的能量分别为6MeV及7.69MeV的ɑ粒子;对于220Rn子体,固体核径迹探测器主要测量212Bi、212Po衰变产生的能量分别为6.05MeV及8.78MeV的ɑ粒子。利用本发明提供的方法对222Rn、220Rn的不同子体ɑ衰变探测效率进行刻度,整个测量过程及计算方法简单,能够快速获得222Rn、220Rn的子体ɑ衰变探测效率。

著录项

  • 公开/公告号CN104267422A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-01-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 衡阳师范学院;

    申请/专利号CN201410523669.9

  • 发明设计人 袁红志;刘辉;谭延亮;

    申请日2014-10-08

  • 分类号G01T1/00(20060101);

  • 代理机构43101 衡阳市科航专利事务所;

  • 代理人邹小强

  • 地址 421008 湖南省衡阳市雁峰区黄白路165号

  • 入库时间 2023-06-18 11:44:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-31

    授权

    授权

  • 2015-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/00 申请日:20141008

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    公开

    公开

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