一种改善石墨烯纳米器件自旋过滤效应的方法

摘要

本发明公开了一种改善石墨烯纳米器件自旋过滤效应的方法，使用第一原理方法，首先模拟有线缺陷ZGNR的STM图像，然后研究在外加电场下的线缺陷ZGNRs的自旋相关的特性，通过引入线缺陷和外加横向电场调控自旋ZGNRs的自旋过滤效应，并与无558线缺陷的ZGNRs比较。最后，提出了实现高性能石墨烯自旋过滤器的一种可行的方法。