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一种高反射率膜片膜内损耗参数的绝对测量方法

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本发明公开了一种高反射率膜片膜内损耗参数的绝对测量方法，它属于对光学薄膜参数进行测量的技术领域，其测量原理基于正、反两方向光束在折叠腔镜高反膜内的干涉效应。本发明以可调谐窄带激光器作为光源，首先通过连续波腔衰荡光谱技术测得折叠型光学无源腔的损耗谱曲线δ(v)，然后利用该损耗谱曲线δ(v)在其一个振荡周期光谱范围内的最大值与最小值之间的差值求得折叠腔镜处被测高反射率膜片膜内的散射和吸收总损耗S+A，即S+A＝[δ(v)

著录项

公开/公告号CN102053007B

专利类型发明专利
公开/公告日2012-09-05

原文格式PDF
申请/专利权人龙兴武;谭中奇;
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申请/专利号CN200910044652.4
发明设计人龙兴武;谭中奇;
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申请日2009-10-29
分类号
代理机构
代理人
地址 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号国防科技大学光电科学与工程学院
入库时间 2022-08-23 09:11:25

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2012-09-05

授权

授权
2011-06-29

实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20091029

实质审查的生效
2011-05-11

公开

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