HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备和测试方法

摘要

本发明涉及一种高效异质结HIT专属单层膜光暗电导性能测试设备和测试方法，测试设备包括导线、探针、样品台、暗盒、静电计、光源和屏蔽罩。测试方法是在样品表面先蒸发两条共面型铝电极，两条电极之间的材料即为被测样品，将样品放入密封的样品台上，连接一个可编程的静电计和光源，通过测试得到的电流来计算出薄膜的电导率。本发明提供的测试设备和测试方法简单并且成本低，能准确的反应出材料的光电性能。