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基于层析成像的X光机与探测器几何位置关系的标定方法

摘要

本发明提供一种X光机与探测器几何位置关系的标定方法,包括:在成像区域内放置至少两个小球,并记录两个小球之间的距离d及两个小球分别与探测器平面之间的距离;任意选择数字式X射线投影图中的一幅,记录两个小球A、B的位置信息所对应的投影位置C、D;估测X光机的初始X坐标P

著录项

  • 公开/公告号CN104257397A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-01-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201410517688.0

  • 申请日2014-09-30

  • 分类号A61B6/03;

  • 代理机构深圳市鼎言知识产权代理有限公司;

  • 代理人哈达

  • 地址 100084 北京市海淀区北京100084-82信箱

  • 入库时间 2023-12-17 02:14:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-24

    授权

    授权

  • 2015-02-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20140930

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    公开

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