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一种绝缘材料表面电荷二维分布自动测量系统

摘要

本发明公开了一种绝缘材料表面电荷二维分布自动测量系统,包括内部设置有二维电控位移台的密闭腔体,待测试品通过竖直设置的背板电极固定在二维电控位移台上,待测试品的上下两端分别连接高压电极和接地电极;一维磁耦合直线旋转驱动器的运动端设置有绝缘夹具,Kelvin探头固定在绝缘夹具上,Kelvin探头的探测点垂直于待测试品,Kelvin探头的输出信号引线密闭腔体外部的静电电位计连接,静电电位计的信号输出端连接计算机的数据采集系统,密闭腔体的另一侧设置有连接管,连接管的末端设置有真空泵。本发明用于测量绝缘材料的表面电荷密度二维分布,丰富了绝缘材料的闪络特性研究内容和电荷分布测量的手段。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-01

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R29/24 申请公布日:20141126 申请日:20140910

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-12-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/24 申请日:20140910

    实质审查的生效

  • 2014-11-26

    公开

    公开

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