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一种针对电子单机热待机环境下的剩余寿命预测装置

摘要

本发明公开了一种针对电子单机热待机环境下的剩余寿命预测装置,涉及可靠性领域,本装置包括:中央控制器模块、剩余寿命预测模块、电源模块、键盘输入模块、显示模块、报警模块、传感器和数据存储模块。本发明的优点是可用于各应用系统中的电子单机设备的剩余寿命,从而进行适时维护管理以免在使用中产生故障。使用方便、准确、可靠性高,可高效地预测出电子单机实时环境下的剩余寿命,提高了各领域应用系统的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN104036110A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201410111595.8

  • 申请日2014-03-24

  • 分类号G06F19/00;

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人孟卜娟

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-12-17 01:39:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-08

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F19/00 申请公布日:20140910 申请日:20140324

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-10-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F19/00 申请日:20140324

    实质审查的生效

  • 2014-09-10

    公开

    公开

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