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缺陷校正设备和缺陷校正方法

摘要

缺陷校正设备具有多个涂布针,并且可以根据基板中的缺陷执行有效的校正操作。缺陷校正设备(100)具有:墨水涂布机构(34),其包括多个针,用于校正缺陷并且涂布直径各不相同;图像处理单元(21),用于检测基板中的缺陷位置;计算单元(25),用于基于所检测的缺陷位置的图像来计算表示缺陷尺寸的缺陷尺寸值;选择单元(26),用于根据计算出的缺陷尺寸值选择具有要用于校正的涂布直径的针;以及校正处理单元(50),用于使用具有一涂布直径的选定针来校正缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN103959108A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NTN株式会社;

    申请/专利号CN201280058501.4

  • 发明设计人 大庭博明;

    申请日2012-11-30

  • 分类号G02B5/20;G01N21/956;G02F1/13;G02F1/1335;

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人李玲

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-12-17 00:50:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-08

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G02B5/20 申请公布日:20140730 申请日:20121130

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-12-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B5/20 申请日:20121130

    实质审查的生效

  • 2014-07-30

    公开

    公开

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