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一种用于跃变物体的高精度三维面形测量的方法

摘要

本发明提供了一种用于跃变物体的高精度三维面形测量的方法,该方法将条纹投影轮廓术并结合曲波变换用于跃变物体的三维面形测量中。基于结构光投影的条纹轮廓术是一种高精度、快速、非相干的光学全场物体三维面形测量技术,并且实验装置简单,主要包括计算机、投影仪和数码相机。所述投影仪用于对待测跃变物体投射多套频率不同的正弦条纹图案,数码相机记录下变形的条纹图案并传送至计算机,再利用曲波变换对变形条纹图去噪,并结合相移方法解调出变形条纹的相位分布,利用相位展开方法获取展开相位分布。最后根据相位-高度关系得到跃变物体的三维数据。本发明的主要增益:提供了一种高精度、快速的全场测量技术对跃变物体三维面形测量。

著录项

  • 公开/公告号CN103940371A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201410199251.7

  • 申请日2014-05-12

  • 分类号G01B11/25(20060101);

  • 代理机构成都华典专利事务所(普通合伙);

  • 代理人徐丰

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-12-17 00:45:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-04

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B11/25 申请公布日:20140723 申请日:20140512

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-08-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/25 申请日:20140512

    实质审查的生效

  • 2014-07-23

    公开

    公开

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