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用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪

摘要

本发明为用于高纯锗烷气中微量杂质分析的氦离子化气相色谱仪,其特征在于:所述的氦离子化气相色谱仪包括色谱柱箱、控温系统、信号采集处理系统和尾气处理系统,所述的信号采集系统包括氦离子化检测器和色谱柱工作站,所述的温控系统实现各个色谱柱和检测器的独立控温,并且控制色谱柱温度按照时间程序升温,所述色谱柱工作站的结构包括三个切换阀、三个色谱柱、四个针阀和三个载气气路,所述的三个切换阀为一个十通阀和两个六通阀,所述的氦离子化检测器与色谱柱工作站的线路连接。本发明针对高纯锗烷气中微量杂质进行分析,通过氦离子化检测器高灵敏度实现ppb级别杂质分析,实现一次进样操作即完成对锗烷杂质的全分析。

著录项

  • 公开/公告号CN103675140A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华爱色谱分析技术有限公司;

    申请/专利号CN201310677677.4

  • 发明设计人 庄鸿涛;郁光;方华;

    申请日2013-12-13

  • 分类号G01N30/02(20060101);G01N30/20(20060101);G01N30/60(20060101);

  • 代理机构31113 上海浦东良风专利代理有限责任公司;

  • 代理人陈志良

  • 地址 200233 上海市徐汇区田林十村37号446室

  • 入库时间 2023-12-17 00:35:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-19

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N30/02 申请公布日:20140326 申请日:20131213

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-04-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N30/02 申请日:20131213

    实质审查的生效

  • 2014-03-26

    公开

    公开

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