首页> 中国专利> 用于在射频信号测试过程中确定衰减参数的方法与设备

用于在射频信号测试过程中确定衰减参数的方法与设备

摘要

本发明提供了一种用于在射频信号测试过程中确定衰减参数的方法,其特征在于,包括以下步骤:确定与待测试指标相对应的测试强度范围;确定射频信号的待测功率;根据测试强度范围,对射频信号的待测功率执行运算处理,以确定对射频信号的待测试指标执行测试时的衰减参数。本发明提供的技术方案,由于衰减参数是根据射频信号的待测功率实时进行确定的,可保证设定的衰减参数为对待测试指标执行测试时的较优衰减参数,因此不会抬高测试仪表底噪,提高射频信号自动化测试的精度;同时,在射频信号出现抖动,如功率突然变大时,衰减参数的实时调整可以有效防止大功率信号对测试设备造成损害,从而起到保护测试设备的作用。

著录项

  • 公开/公告号CN103873169A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大唐移动通信设备有限公司;

    申请/专利号CN201410103410.9

  • 发明设计人 李玉军;张士博;刘芳;

    申请日2014-03-19

  • 分类号H04B17/00;

  • 代理机构北京市立方律师事务所;

  • 代理人郑瑜生

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路29号

  • 入库时间 2023-12-17 00:25:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-02-03

    授权

    授权

  • 2014-07-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04B17/00 申请日:20140319

    实质审查的生效

  • 2014-06-18

    公开

    公开

说明书

技术领域

本发明涉及通信领域,具体而言,本发明涉及用于在射频信号测试中 确定衰减参数的方法与设备。

背景技术

随着射频信号测试自动化的日益发展,在测试效率显著提高的同时, 也出现一些不如人工测试精度高的问题。例如,在射频信号自动测试中由 于被固定的测试脚本所限,从而无法对部分待测试指标进行精确测量的问 题。

在射频信号的自动化测试中,某些待测试指标如ACPR(Adjacent  Channel Power Ratio,邻信道功率比)、杂散、EVM(Error Vector Magnitude, 误差向量幅度)等,需要在测试脚本中规定测试设备设置的诸如“输入衰 减”或“range”参数值等,以保护测试设备不被大功率射频信号损坏。但 若该等参数值设置过大会抬高测试设备底噪,不能呈现真实的指标情况, 影响测试精度;若该等参数值设置过小会导致测试设备过载,使得测试设 备链路在非线性区工作,从而损伤测试设备且影响测试结果精度。

目前的测试过程中,测试脚本规定的衰减参数一旦设定即为固定值, 不能根据测试信号的强度进行实时调整,因而影响测试精确度;同时,如 果射频信号出现抖动,比如功率突然变大,测试仪表不会自动变更设置的 衰减参数值,因此会导致测试设备过载,损伤测试设备。

发明内容

本发明提供一种用于在射频信号测试过程中确定衰减参数的方法与 设备,其目的旨在至少解决上述技术缺陷之一,特别是在射频信号测试过 程中,衰减参数值无法根据测试信号的强度进行实时调整的问题。

为解决上述问题,本发明提供了一种用于在射频信号测试过程中确定 衰减参数的方法,包括:

确定与待测试指标相对应的测试强度范围;

确定射频信号的待测功率;

根据所述测试强度范围,对所述射频信号的待测功率执行运算处理, 以确定对所述射频信号的待测试指标执行测试时的衰减参数。

本发明还提供一种用于在射频信号测试过程中确定衰减参数的测试 设备,包括范围确定模块、待测功率确定模块和参数确定模块:

所述范围确定模块,用于确定与待测试指标相对应的测试强度范围;

所述待测功率确定模块,用于确定射频信号的待测功率;

所述参数确定模块,用于根据所述测试强度范围,对所述射频信号的 待测功率执行运算处理,以确定对所述射频信号的待测试指标执行测试时 的衰减参数。

本发明提供的实施例包括以下一项或多项有益效果:

在本发明提供的实施例中,根据与待测试指标相对应的测试强度范 围,对所获取的射频信号的待测功率执行运算处理,以确定对所述射频信 号的待测试指标执行测试时的衰减参数;由于衰减参数是根据射频信号的 待测功率实时进行确定的,可保证设定的衰减参数为对待测试指标执行测 试时的较优衰减参数,因此不会抬高测试仪表底噪,提高射频信号自动化 测试的精度;同时,在射频信号出现抖动,如功率突然变大时,衰减参数 的实时调整可以有效防止大功率信号对测试设备造成损害,从而起到保护 测试设备的作用。本发明提出的上述方案,对现有系统的改动很小,不会 影响系统的兼容性,而且实现简单、高效。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,这些将从下面 的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描 述中将变得明显和容易理解,其中:

图1示出根据本发明一个方面的一种在射频信号测试中确定衰减参 数的方法流程图;

图2示出根据本发明另一个方面的一种在射频信号测试中确定衰减 参数的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其 中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似 功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本 发明,而不能解释为对本发明的限制。

其中,本方案中衰减参数的确定在测试设备中执行。

其中,测试设备包括但不限于各种射频信号测试仪表,如频谱仪等。

以下以测试设备为测试仪表为例进行实施例的说明。

图1示出根据本发明一个方面的一种在射频信号测试中确定衰减参 数的方法的流程图。如图1所示,本实施例在射频信号测试中确定衰减 参数的方法的流程具体包括如下步骤:

在步骤S110中,测试仪表确定与待测试指标相对应的测试强度范围。

其中,待测试指标包括但不限于:ACPR、杂散及EVM;

以下将以待测试指标为EVM为例,对具体实施例进行说明。

在一个具体实施例中,在步骤S110中,测试仪表根据测试人员所选 择的或系统预先配置的待测试指标EVM,在测试强度列表中读取与待测 试指标相对应的预存的测试强度范围为-20dBm至-10dBm。

在步骤S120中,测试仪表确定射频信号的待测功率。

其中,确定射频信号的待测功率的方式包括但不限于:

1)直接确定方式;第三方设备直接向测试仪表提供对该射频信号进 行变频、衰减等处理后的射频信号,测试设备对该射频信号进行检测以获 得该射频信号的待测功率。

2)优选地,间接确定方式;其中,该方法(参照图1)还包括步骤 S121(图未示)、步骤S122(图未示)和步骤S123(图未示);

在步骤S121中,测试仪表获取预设的输入衰减值;在步骤S122中, 测试仪表接收射频信号的输入功率;在步骤S123中,测试仪表根据输入 衰减值,对射频信号的输入功率执行运算处理,以确定射频信号的待测功 率。

具体地,在步骤S121中,测试仪表获取预设的输入衰减值A;在步 骤S122中,测试仪表接收射频信号的输入功率P1;在步骤S123中,测试 仪表通过以下公式1)来运算确定射频信号的待测功率P2

P2=P1-A   1)

其中,P1表示射频信号的输入功率;

P2表示射频信号的待测功率;

A表示预设的输入衰减值。

在一示例中,输入衰减值A为40dB,射频信号的输入功率P1为 40dBm,则通过公式1)进行运算,确定射频信号的待测功率P2为0dBm (=40dBm-40dB)。

在对射频信号执行测试之前,对输入功率进行功率衰减处理,可确保 执行测试的射频信号的待测功率不会过大,以避免大功率输入对测试仪表 的损坏,起到保护测试仪表的作用。

在步骤S130中,测试仪表根据测试强度范围,对射频信号的待测功 率执行运算处理,以确定对射频信号的待测试指标执行测试时的衰减参 数。

具体地,在步骤S130中,测试仪表根据已确定的测试强度范围中的 任一测试强度值m,通过以下公式2)对射频信号的待测功率P2执行运算 处理,以确定对射频信号的EVM指标执行测试时的衰减参数a;

m=P2-a   2)

其中,P2为射频信号的待测功率;

m为测试强度范围中的任一测试强度值;

a为衰减参数。

根据与待测试指标相对应的测试强度范围,对所获取射频信号的待测 功率执行运算处理,以确定对射频信号的待测试指标执行测试时的衰减参 数;由于衰减参数是根据射频信号的待测功率实时进行确定的,可保证设 定的衰减参数为对待测试指标执行测试时的较优衰减参数,因此不会抬高 测试仪表底噪,提高射频信号自动化测试的精度;同时,在射频信号出现 抖动,如功率突然变大时,衰减参数的实时调整可以有效防止大功率信号 对测试设备造成损害,从而起到保护测试设备的作用。

在一个优选实施例中(参照图1),该方法还包括步骤S140(图未示), 在步骤S140中,测试仪表将待测功率与预置过载阈值进行比较,来判断 待测功率是否过载;当判断待测功率不过载时,在步骤S130中,测试仪 表根据测试强度范围,对射频信号的待测功率执行运算处理,以确定对射 频信号的待测试指标执行测试时的衰减参数。

对待测功率进行是否过载的判断,目的是为了保证待测功率能够处于 测试仪表线性区内,测试仪表正常工作不过载,从而起到保护测试仪表的 作用。

在另一个优选实施例中(参照图1),该方法还包括步骤S160(图未 示),当判断待测功率过载时,在步骤S160中,测试仪表生成并发送停 止发送射频信号的控制信息。

具体地,当判断待测功率过载时,在步骤S160中,测试仪表生成停 止发送射频信号的控制信息,随后将控制信息发送至射频信号的发送设 备,来通知发送设备停止继续发送射频信号,从而有效地保护测试仪表。

在又一个实施例中(参照图1),该方法还包括步骤S170(图未示), 当判断待测功率过载时,在步骤S170中,测试设备生成并提供无法满足 测试需求的告警信息。

具体地,当判断待测功率过载时,在步骤S170中,测试仪表生成无 法满足测试需求的告警信号,并将该告警信号通过告警提示音或在测试仪 表的显示屏中弹出告警提示信息等方式提供至测试人员,以用于测试人员 可以手动停止当前测试操作,亦可有效地保护测试仪表。

在另一个实施例中,在测试仪表执行测试之前,可在测试仪表中预置 输入路损补偿值,以用于补偿从射频信号发射源到测试仪表之间的传输过 程中产生的功率损耗。在确定待测试指标执行测试时的衰减参数之前,将 待测功率的数值将从射频信号发射源到测试仪表之间的输入路损补偿值 清零。当在测试仪表中已确定对射频信号的待测试指标执行测试时的衰减 参数后,射频信号的实际强度值在测试强度范围内,此时将待测功率的数 值重新加入输入路损补偿值,使得测试仪表中的射频信号的实际功率值处 于测试强度范围内,而测试仪表中记录的测试数值为加入路损补偿值的射 频信号的输入功率值。本实施例即可使得测试仪表中的射频信号的实际功 率值不过大保护测试仪表,又可保证测试仪表中记录的测试数值为加入路 损补偿值的射频信号的输入功率值,保证测试结果的准确性。

其中,输入路损意指在射频信号传输过程中产生的功率损耗。

在一示例中,输入衰减值A为40dB,射频信号的输入功率P1为 40dBm,则测试仪表通过公式1)进行运算获得射频信号的待测功率P2为 0dBm,同时根据预置的输入路损补偿值为60dB,测试仪表会将待测功率 P2的数值补偿调整至60dBm(=0dBm+60dB);随后,在确定待测试指标 执行测试时的衰减参数之前,测试仪表将预置的输入路损补偿值清零。

图2示出根据本发明另一个方面的一种在射频信号测试中确定衰减 参数的结构示意图。如图2所示,测试设备100包括范围确定模块110、 待测功率确定模块120和参数确定模块130:

首先,范围确定模块110确定与待测试指标相对应的测试强度范围。

其中,待测试指标包括但不限于:ACPR、杂散及EVM;

以下将以待测试指标为EVM为例,对具体实施例进行说明。

在一个具体实施例中,首先,范围确定模块110根据测试人员所选择 的或系统预先配置的待测试指标EVM,在测试强度列表中读取与待测试 指标相对应的预存的测试强度范围为-20dBm至-10dBm。

接着,待测功率确定模块120获取射频信号的待测功率。

其中,确定射频信号的待测功率的方式包括但不限于:

1)直接确定方式;第三方设备直接向测试设备提供对该射频信号进 行变频、衰减等处理后的射频信号,测试设备对该射频信号进行检测以获 得该射频信号的待测功率。

2)优选地,间接确定方式;其中,待测功率确定模块120(参照图2) 获取预设的输入衰减值;接收射频信号的输入功率;根据输入衰减值,对 射频信号的输入功率执行运算处理,以确定射频信号的待测功率。

具体地,待测功率确定模块120获取预设的输入衰减值A;接收射频 信号的输入功率P1;并通过以下公式1)来运算确定射频信号的待测功率 P2

P2=P1-A   1)

其中,P1表示射频信号的输入功率;

P2表示射频信号的待测功率;

A表示预设的输入衰减值。

在一示例中,输入衰减值A为40dB,射频信号的输入功率P1为 40dBm,则通过公式1)进行运算,确定射频信号的待测功率P2为0dBm (=40dBm-40dB)。

在对射频信号执行测试之前,对输入功率进行功率衰减处理,可确保 执行测试的射频信号的待测功率不会过大,以避免大功率输入对测试设备 的损坏,起到保护测试设备的作用。

随后,参数确定模块130根据测试强度范围,对射频信号的待测功率 执行运算处理,以确定对射频信号的待测试指标执行测试时的衰减参数。

具体地,参数确定模块130根据已确定的测试强度范围中的任一测试 强度值m,通过以下公式2)对射频信号的待测功率P2执行运算处理,以 确定对射频信号的EVM指标执行测试时的衰减参数a;

m=P2-a   2)

其中,P2为射频信号的待测功率;

m为测试强度范围中的任一测试强度值;

a为衰减参数。

根据与待测试指标相对应的测试强度范围,对所获取射频信号的待测 功率执行运算处理,以确定对射频信号的待测试指标执行测试时的衰减参 数;由于衰减参数是根据射频信号的待测功率实时进行确定的,可保证设 定的衰减参数为对待测试指标执行测试时的较优衰减参数,因此不会抬高 测试设备底噪,提高射频信号自动化测试的精度;同时,在射频信号出现 抖动,如功率突然变大时,衰减参数的实时调整可以有效防止大功率信号 对测试设备造成损害,从而起到保护测试设备的作用。

在一个优选实施例中(参照图2),测试设备100还包括判断模块(图 未示),判断模块将待测功率与预置过载阈值进行比较,来判断待测功率 是否过载;当判断待测功率不过载时,参数确定模块130根据测试强度范 围,对射频信号的待测功率执行运算处理,以确定对射频信号的待测试指 标执行测试时的衰减参数。

对待测功率进行是否过载的判断,目的是为了保证测试设备能够工作 于线性区间内,测试设备正常工作不过载,从而起到保护测试设备的作用。

在另一个优选实施例中(参照图2),测试设备100还包括控制信息 生成模块(图未示),当判断待测功率过载时,控制信息生成模块生成并 发送停止发送射频信号的控制信息。

具体地,当判断待测功率过载时,控制信息生成模块生成停止发送射 频信号的控制信息,随后将控制信息发送至射频信号的发送设备,来通知 发送设备停止继续发送射频信号,从而有效地保护测试设备。

在又一个优选实施例中(参照图2),测试设备100还包括告警信息 生成模块,(图未示),当判断待测功率过载时,告警信息生成模块生成 并提供无法满足测试需求的告警信息。

具体地,当判断待测功率过载时,告警信息生成模块生成无法满足测 试需求的告警信号,并将该告警信号通过告警提示音或在测试设备的显示 屏中弹出告警提示信息等方式提供至测试人员,以用于测试人员可以手动 停止当前测试操作,亦可有效地保护测试设备。

在另一个实施例中,在测试仪表执行测试之前,可在测试仪表中预置 输入路损补偿值,以用于补偿从射频信号发射源到测试仪表之间的传输过 程中产生的功率损耗。在确定待测试指标执行测试时的衰减参数之前,将 待测功率的数值将从射频信号发射源到测试仪表之间的输入路损补偿值 清零。当在测试仪表中已确定对射频信号的待测试指标执行测试时的衰减 参数后,射频信号的实际强度值在测试强度范围内,此时将待测功率的数 值重新加入输入路损补偿值,使得测试仪表中的射频信号的实际功率值处 于测试强度范围内,而测试仪表中记录的测试数值为加入路损补偿值的射 频信号的输入功率值。本实施例即可使得测试仪表中的射频信号的实际功 率值不过大保护测试仪表,又可保证测试仪表中记录的测试数值为加入路 损补偿值的射频信号的输入功率值,保证测试结果的准确性。

其中,输入路损意指在射频信号传输过程中产生的功率损耗。

在一示例中,输入衰减值A为40dB,射频信号的输入功率P1为 40dBm,则测试仪表通过公式1)进行运算获得射频信号的待测功率P2为 0dBm,同时根据预置的输入路损补偿值为60dB,测试仪表会将待测功率 P2的数值补偿调整至60dBm(=0dBm+60dB);随后,在确定待测试指标 执行测试时的衰减参数之前,测试仪表将预置的输入路损补偿值清零。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全 部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存 储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步 骤之一或其组合。

此外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块 中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在 一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软 件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现 并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介 质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。

以上所述仅是本发明的部分实施方式,应当指出,对于本技术领域的 普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进 和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

去获取专利,查看全文>

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号