用具有用于驱动防护环的模拟输出的微控制器来测量电容性传感器的电容

摘要

本发明描述微控制器(101b)，其测量电容性传感器(704a到704d)的电容，所述电容性传感器具有与其相关联的防护环(320)。围绕每一电容性传感器板提供防护环且将所述防护环充电到实质上与所述相关联的电容性传感器板上的电压相同的电压。所述防护环减小由所述电容性传感器板与邻近电路导体、接地平面及电源平面之间的电压电位差引起的所述电容性传感器板的寄生电容。模拟输出(726)经缓冲(714)且耦合到模拟输入，所述模拟输入耦合到所述电容性传感器板，且用以将防护环电压驱动到实质上与所述电容性传感器板上的所述电压相同的电压。

说明书

相关专利申请案

本申请案主张由Zeke Lundstrum、Keith Curtis、Burke Davison、Sean Steedman及 Yann LeFaou于2011年10月7日申请的标题为“具有对模拟输入总线的外部存取的微 控制器ADC(Microcontroller ADC with External Access to the Analog Input Bus)”的共同 拥有的第61/544,363号美国临时专利申请案的优先权；所述案特此为了所有目的以引用 的方式并入本文中。

技术领域

本发明涉及尤其用于微控制器中的模/数及频率转换器，且更特定来说，涉及用于由 具有电容性触摸检测能力的微控制器使用的模/数及频率转换器。

背景技术

对象(例如，一片金属、手指、手、脚、腿等)触摸电容性传感器或靠近电容性近接 传感器会改变其某些参数，尤其是建置于用于(例如)人机接口装置(例如，小键盘或键盘) 中的触摸传感器中的电容器的电容值。微控制器现包含增强对此些电容性传感器的检测 及评估的周边装置。一个此应用利用电容分压(CVD)来评估是否已触摸电容性触摸元件。 另一应用利用充电时间测量单元(CTMU)来在精确时间内通过恒定电流源对电容性触摸 元件充电，接着在精确时间的末尾处测量电容性触摸元件上的所得电压。另一应用为测 量电容性感测模块(CSM)的频率的改变，所述频率改变与电容性触摸元件的电容的改变 成比例。然而，当此些传感器在高噪声环境中操作时，常规系统中的分辨率或检测可能 不足够。

特定来说，寄生电容可在许多电容性传感器应用中造成问题。无论何时邻近于传感 器(或其到微控制器的连接)的导体处在不同于传感器的电压电位处，皆会产生寄生电容。 因此，假定寄生电容可降低电容性传感器的敏感性且借此降低所得电容转换过程(例如， CVD、CTMU或CSM)的分辨率，较佳地减小与电容性传感器相关联的寄生电容。

发明内容

因此，需要一种用以减小与电容性传感器相关联的寄生电容，借此在所述电容性传 感器的操作期间增加所述电容性传感器的电容测量改变敏感性的有效方式。

根据一实施例，微控制器可包括：数字处理器，其具有存储器；多个外部输入/输出 节点，其可经编程以充当模拟节点；多路复用器，其由所述数字处理器控制以用于选择 所述模拟节点中的一者且将所述模拟节点耦合到模拟总线；模/数转换器(ADC)，其与所 述模拟总线耦合以用于将所述模拟总线上的模拟电压转换成其数字表示，且具有耦合到 所述数字处理器的数字输出以用于传递所述数字表示，及另外的外部节点，其可独立于 所述多路复用器通过由所述数字处理器控制的可编程开关连接到所述模拟总线。

根据另一实施例，所述微控制器可包括：至少一模拟输出驱动器；取样与保持电容 器，其与所述ADC相关联；第一模拟节点，其耦合到所述微控制器中的第一模拟总线； 第二模拟节点，其耦合到所述微控制器中的第二模拟总线，所述第二模拟总线还可耦合 到所述至少一模拟输出驱动器的输入；所述第一模拟总线可切换地耦合到电力供应共同 电位、电力供应电压、所述取样与保持电容器或所述第二模拟总线；所述第二模拟总线 可切换地耦合到所述电力供应共同电位、所述电力供应电压或所述第一模拟总线；所述 取样与保持电容器可切换地耦合到所述第一模拟总线或所述ADC的输入；及所述微控 制器的至少一第三模拟输出节点可耦合到所述至少一模拟输出驱动器中的相应者。

根据另一实施例，所述第二模拟节点可适宜耦合到电容性传感器。根据另一实施例， 所述至少一第三模拟输出节点可适宜耦合到与所述电容性传感器相关联的防护环，其中 所述防护环上的电压可为实质上与所述电容性传感器上的电压相同的电压。根据另一实 施例，所述第一模拟节点可适宜耦合到外部电容器。根据另一实施例，至少一内部电容 器可切换地耦合到所述第一模拟总线。

根据另一实施例，所述微控制器可包括多个开关，其中：所述多个开关中的第一者 在闭合时将所述第一模拟总线及所述第二模拟总线耦合在一起，所述多个开关中的第二 者在闭合时将所述第一模拟总线耦合到电力供应共同电位，所述多个开关中的第三者在 闭合时将所述第二模拟总线耦合到电力供应电压，所述多个开关中的第四者在闭合时将 所述第一模拟总线耦合到所述电力供应电压，及所述多个开关中的第五者在闭合时将所 述第二模拟总线耦合到所述电力供应共同电位。

根据另一实施例，所述数字处理器控制所述多个开关。根据另一实施例，所述多个 开关可为多个场效应晶体管(FET)开关。

根据另一实施例，所述微控制器可包括：精确计时器，其耦合到所述数字处理器； 多个开关；第一节点，其耦合到所述多个开关，所述第一节点还可适宜耦合到外部电容 性传感器；取样与保持电路，其具有耦合到所述精确计时器的控制输入、耦合到所述第 一节点的模拟输入及耦合到所述ADC的输入的模拟输出；恒定电流源，其耦合到所述 多个开关；其中所述多个开关可由所述精确计时器控制以用于将所述第一节点耦合到电 力供应共同电位或所述恒定电流源；第二节点；及模拟驱动器，其具有耦合到所述第一 节点的模拟输入及耦合到所述第二节点的模拟输出，借此所述第二节点上的电压可实质 上与所述第一节点上的电压相同；其中所述第二节点可适宜耦合到与所述外部电容性传 感器相关联的外部防护环；其中所述第一节点可经由所述多个开关耦合到所述电力供应 共同电位直到由所述精确计时器确定的精确时间周期的开始为止，接着所述第一节点可 耦合到所述恒定电流源，借此所述外部电容性传感器可由所述恒定电流源充电直到由所 述精确计时器确定的所述精确时间周期的停止为止；在所述精确计时器的所述停止发生 之后，所述外部电容性传感器上的电压电荷的样本可由所述取样与保持电路获取且存储 于所述取样与保持电路中；所述经取样及经存储电压电荷可由所述ADC转换成其数字 表示；及所述数字处理器从所述ADC读取所述数字表示且从所述精确时间周期及所述 电压电荷的所述数字表示确定所述外部电容性传感器的电容值。

根据另一实施例，所述微控制器可包括：恒定电流槽，其耦合到所述多个开关；其 中所述第一节点可经由所述多个开关耦合到电力供应电压直到由所述精确计时器确定 的另一精确时间周期的开始为止，接着所述第一节点可耦合到所述恒定电流槽，借此所 述外部电容性传感器可由所述恒定电流槽放电直到由所述精确计时器确定的所述精确 时间周期的另一停止为止；在所述精确计时器的所述另一停止发生之后，所述外部电容 性传感器上的另一电压电荷的样本可由所述取样与保持电路获取且存储于所述取样与 保持电路中；所述经取样及经存储的另一电压电荷可由所述ADC转换成其另一数字表 示；及所述数字处理器从所述ADC读取所述另一数字表示且从所述另一精确时间周期 及所述另一电压电荷的所述另一数字表示确定所述外部电容性传感器的电容值。

根据另一实施例，所述微控制器可包括：可变频率振荡器；频率测量电路，其具有 耦合到所述数字处理器的输出及耦合到所述可变频率振荡器的输入；第一节点，其耦合 到所述可变频率振荡器，所述第一节点还可适宜耦合到外部电容性传感器；第二节点， 其适宜耦合到与所述外部电容性传感器相关联的外部防护环；及模拟驱动器，其具有耦 合到所述第一节点的模拟输入及耦合到所述第二节点的模拟输出，借此所述第二节点上 的电压可实质上与所述第一节点上的电压相同；其中所述外部电容性传感器可为所述可 变频率振荡器的频率确定电路的部分，借此所述可变频率振荡器的频率在所述外部电容 性传感器的电容值改变时改变；其中所述频率测量电路测量所述可变频率振荡器的所述 频率且将其转换成其数字表示；及其中所述数字处理器读取所述频率的所述数字表示且 确定所述外部电容性传感器的电容值。

根据另一实施例，电容性传感器系统可包括：电容性传感器；防护环，其与所述电 容性传感器相关联；微控制器，其包括：数字处理器，其具有存储器；多个外部输入/ 输出节点，其可经编程以充当模拟节点；多路复用器，其由所述数字处理器控制以用于 选择所述模拟节点中的一者且将所述模拟节点耦合到模拟总线；模/数转换器(ADC)，其 与所述模拟总线耦合以用于将所述模拟总线上的模拟电压转换成其数字表示，且具有耦 合到所述数字处理器的数字输出以用于传递所述数字表示；另外的外部节点，其可独立 于所述多路复用器通过由所述数字处理器控制的可编程开关连接到所述模拟总线；取样 与保持电容器，其耦合到多个开关；第一节点，其耦合到所述多个开关；其中所述多个 开关中的第一者将所述取样与保持电容器耦合到所述ADC的输入或所述第一节点；第 二节点，其耦合到所述多个开关及所述电容性传感器；第三节点，其耦合到与所述电容 性传感器相关联的所述防护环；及模拟驱动器，其具有耦合到所述第二节点的模拟输入 及耦合到所述第三节点的模拟输出，借此所述第三节点上的电压可实质上与所述第二节 点上的电压相同；其中所述多个开关中的第一者在闭合时将所述第一节点及所述第二节 点耦合在一起，所述多个开关中的第二者在闭合时将所述第一节点耦合到电力供应共同 电位，所述多个开关中的第三者在闭合时将所述第二节点耦合到电力供应电压，所述多 个开关中的第四者在闭合时将所述第一节点耦合到所述电力供应电压，及所述多个开关 中的第五者在闭合时将所述第二节点耦合到所述电力供应共同电位。

根据另一实施例，所述电容性传感器系统可包括耦合到所述第一节点的填补电容 器，其中所述填补电容器及所述取样与保持电容器的组合电容值可大约等于所述电容性 传感器的电容值。根据另一实施例，所述数字处理器控制所述多个开关。

根据另一实施例，电容性传感器系统可包括：电容性传感器；防护环，其与所述电 容性传感器相关联；微控制器，其可包括：数字处理器，其具有存储器；精确计时器， 其耦合到所述数字处理器；模/数转换器(ADC)，其具有耦合到所述数字处理器的输出； 第一节点，其耦合到多个开关及所述电容性传感器；取样与保持电路，其具有耦合到所 述精确计时器的控制输入、耦合到所述第一节点的模拟输入及耦合到所述ADC的输入 的模拟输出；恒定电流源，其耦合到所述多个开关；其中所述多个开关可由所述精确计 时器控制以用于将所述第一节点耦合到电力供应共同电位或所述恒定电流源；第二节 点，其耦合到所述防护环；及模拟驱动器，其具有耦合到所述第一节点的模拟输入及耦 合到所述第二节点的模拟输出，借此所述第二节点上的电压可实质上与所述第一节点上 的电压相同；其中所述第一节点可经由所述多个开关耦合到所述电力供应共同电位直到 由所述精确计时器确定的精确时间周期的开始为止，接着所述第一节点可耦合到所述恒 定电流源，借此所述外部电容性传感器可由所述恒定电流源充电直到由所述精确计时器 确定的所述精确时间周期的停止为止；在所述精确计时器的所述停止发生之后，所述外 部电容性传感器上的电压电荷的样本可由所述取样与保持电路获取且存储于所述取样 与保持电路中；所述经取样及经存储的电压电荷可由所述ADC转换成其数字表示；及 所述数字处理器从所述ADC读取所述数字表示且从所述精确时间周期及所述电压电荷 的所述数字表示确定所述电容性传感器的电容值。

根据另一实施例，电容性传感器系统可包括：电容性传感器；防护环，其与所述电 容性传感器相关联；微控制器，其可包括：数字处理器，其具有存储器；可变频率振荡 器；频率测量电路，其具有耦合到所述数字处理器的输出及耦合到所述可变频率振荡器 的输入；第一节点，其耦合到所述可变频率振荡器及所述外部电容性传感器；第二节点， 其耦合到所述防护环；及模拟驱动器，其具有耦合到所述第一节点的模拟输入及耦合到 所述第二节点的模拟输出，借此所述第二节点上的电压可实质上与所述第一节点上的电 压相同；其中所述外部电容性传感器可为所述可变频率振荡器的频率确定电路的部分， 借此所述可变频率振荡器的频率在所述外部电容性传感器的电容值改变时改变；其中所 述频率测量电路测量所述可变频率振荡器的所述频率且将其转换成其数字表示；及其中 所述数字处理器读取所述频率的所述数字表示且确定所述外部电容性传感器的电容值。

根据另一实施例，一种用于测量电容性传感器的电容且控制与所述电容性传感器相 关联的防护环上的电压的方法可包括以下步骤：提供电容性传感器；提供防护环，其与 所述电容性传感器相关联；将可实质上与所述电容性传感器上的电压相同的电压提供到 所述防护环；提供微控制器，其可包括：数字处理器，其具有存储器；模/数转换器(ADC)， 其具有耦合到所述数字处理器的输出；取样与保持电容器，其耦合到多个开关；第一节 点，其耦合到所述多个开关；其中所述多个开关中的第一者将所述取样与保持电容器耦 合到所述ADC的输入或所述第一节点；第二节点，其耦合到所述多个开关及所述电容 性传感器；第三节点，其耦合到与所述电容性传感器相关联的所述防护环；及模拟驱动 器，其具有耦合到所述第二节点的模拟输入及耦合到所述第三节点的模拟输出，借此所 述第三节点上的电压可实质上与所述第二节点上的电压相同；将所述取样与保持电容器 耦合到所述第一节点；将所述第一节点耦合到电力供应电压；将所述第二节点耦合到电 力供应共同电位；将所述第一节点与所述第二节点耦合在一起足够长时间以使第一电荷 在所述第一节点与所述第二节点之间安定；将所述取样与保持电容器与所述第一节点解 耦；将所述第二节点耦合到所述电力供应共同电位；将所述第二节点耦合到所述电力供 应电压；通过所述ADC将所述取样与保持电容器上的所述所安定的第一电荷转换成其 第一数字表示；通过所述数字处理器从所述ADC读取所述第一数字表示；将所述第一 节点耦合到所述电力供应共同电位；将所述第一节点与所述第二节点耦合在一起足够长 时间以使第二电荷在所述第一节点与所述第二节点之间安定；将所述取样与保持电容器 与所述第一节点解耦；将所述第二节点耦合到所述电力供应电压；将所述第二节点耦合 到所述电力供应共同电位；通过所述ADC将所述取样与保持电容器上的所述所安定的 第二电荷转换成其第二数字表示；及通过所述数字处理器从所述ADC读取所述第二数 字表示。

根据本方法的另一实施例，通过所述数字处理器处理所述第一数字表示及所述第二 数字表示的步骤可实质上减小共模噪声。

根据本方法的另一实施例，本方法可包括以下步骤：将所述第一数字表示及所述第 二数字表示存储于与所述数字处理器相关联的存储器中；将所存储的所述第一数字表示 及所述第二数字表示与随后的第一数字表示及第二数字表示相比较，其中如果所述所存 储的第一数字表示及第二数字表示可与所述随后的第一数字表示及第二数字表示实质 上相同，则可不致动所述电容性传感器，且如果所述所存储的第一数字表示及第二数字 表示可与所述随后的第一数字表示及第二数字表示实质上不相同，则可致动所述电容性 传感器。

根据另一实施例，一种用于测量电容性传感器的电容且控制与所述电容性传感器相 关联的防护环上的电压的方法可包括以下步骤：将可实质上与电容性传感器上的电压相 同的电压提供到与所述电容性传感器相关联的防护环，其进一步包括以下步骤：a)将电 容性传感器充电到第二电压；b)将取样与保持电容器充电到第一电压；c)将所述取样与 保持电容器及所述电容性传感器耦合在一起足够长时间以使第一电荷在所述取样与保 持电容器与所述电容性传感器之间安定；d)将所述取样与保持电容器与所述电容性传感 器解耦；e)通过模/数转换器(ADC)将所述取样与保持电容器上的所述所安定的第一电荷 转换成其第一数字表示；f)将所述电容性传感器充电到所述第二电压；g)将所述电容性 传感器充电到所述第一电压；h)通过数字处理器从所述ADC读取所述第一电荷的所述 第一数字表示；i)将所述取样与保持电容器及所述电容性传感器耦合在一起足够长时间 以使第二电荷在所述取样与保持电容器与所述电容性传感器之间安定；j)将所述取样与 保持电容器与所述电容性传感器解耦；k)通过所述模/数转换器(ADC)将所述取样与保持 电容器上的所述所安定的第二电荷转换成其第二数字表示；l)将所述电容性传感器充电 到所述第一电压；m)将所述电容性传感器充电到所述第二电压；n)通过所述数字处理器 从所述ADC读取所述第二电荷的所述第二数字表示；及o)返回到步骤b)。

根据本方法的另一实施例，所述第一电压可大约为电力供应电压且所述第二电压可 大约为电力供应共同电位。根据本方法的另一实施例，所述第一电压可大约为电力供应 共同电位且所述第二电压可大约为电力供应电压。根据本方法的另一实施例，所述防护 环上的电压可实质上与所述电容性传感器上的电压相同。

根据另一实施例，一种用于测量电容性传感器的电容且控制与所述电容性传感器相 关联的防护环上的电压的方法可包括以下步骤：提供电容性传感器；提供防护环，其与 所述电容性传感器相关联；将可实质上与所述电容性传感器上的电压相同的电压提供到 所述防护环；提供混合信号集成电路，其包括：数字处理器，其具有存储器；精确计时 器，其耦合到所述数字处理器；模/数转换器(ADC)，其具有耦合到所述数字处理器的输 出；第一节点，其耦合到多个开关及所述电容性传感器；取样与保持电路，其具有耦合 到所述精确计时器的控制输入、耦合到所述第一节点的模拟输入及耦合到所述ADC的 输入的模拟输出；恒定电流源，其耦合到所述多个开关；其中所述多个开关可由所述精 确计时器控制以用于将所述第一节点耦合到电力供应共同电位或所述恒定电流源；第二 节点，其耦合到所述防护环；及模拟驱动器，其具有耦合到所述第一节点的模拟输入及 耦合到所述第二节点的模拟输出，借此所述第二节点上的电压可实质上与所述第一节点 上的电压相同；经由所述多个开关将所述第一节点耦合到所述电力供应共同电位直到由 所述精确计时器确定的精确时间周期的开始为止；接着将所述第一节点耦合到所述恒定 电流源，借此所述外部电容性传感器可由所述恒定电流源充电直到由所述精确计时器确 定的所述精确时间周期的停止为止；在所述精确计时器的所述停止发生之后通过所述取 样与保持电路取样且存储所述电容性传感器上的电压电荷；将所述经取样及经存储的电 压电荷转换成其数字表示；及通过所述数字处理器从所述ADC读取所述数字表示；及 从所述电压电荷的所述数字表示确定所述电容性传感器的电容值。

根据另一实施例，一种用于测量电容性传感器的电容且控制与所述电容性传感器相 关联的防护环上的电压的方法可包括以下步骤：提供电容性传感器；提供防护环，其与 所述电容性传感器相关联；及将可实质上与所述电容性传感器上的电压相同的电压提供 到所述防护环；提供微控制器，其包括：数字处理器，其具有存储器；可变频率振荡器； 频率测量电路，其具有耦合到所述数字处理器的输出及耦合到所述可变频率振荡器的输 入；第一节点，其耦合到所述可变频率振荡器及所述外部电容性传感器；第二节点，其 耦合到所述防护环；及模拟驱动器，其具有耦合到所述第一节点的模拟输入及耦合到所 述第二节点的模拟输出，借此所述第二节点上的电压可实质上与所述第一节点上的电压 相同；通过频率确定电路测量所述可变频率振荡器的频率；将所述经测量频率的数字表 示提供到所述数字处理器；及从所述频率的所述数字表示确定所述电容性传感器的电容 值。

附图说明

可通过参考结合随附图式进行的以下描述来获得对本发明的更全面理解。

图1说明根据本发明的教示的电子系统的示意性框图，所述电子系统具有电容性触 摸小键盘、电容性触摸模拟前端及数字处理器；

图2说明图1中所展示的电容性传感器按键的示意性立面图；

图3说明根据本发明的特定实例实施例的图1中所展示且具有围绕电容性传感器中 的每一者的电容性防护环的电容性传感器按键的示意性立面图；

图4说明根据本发明的另一特定实例实施例的图1中所展示且具有围绕电容性传感 器中的每一者的防护环的电容性传感器按键的示意性平面图；

图5说明环绕电容性传感器及接地屏蔽的静电场线的示意性立面图；

图6说明根据本发明的教示的环绕电容性传感器、防护环及接地屏蔽的静电场线的 示意性立面图；

图7说明根据本发明的特定实例实施例的具有用于电容性传感器及相关联的防护环 的CVD处理能力的混合信号集成电路装置的示意图；

图7A说明根据本发明的另一特定实例实施例的具有用于多个电容性传感器及防护 环的CVD处理能力的混合信号集成电路装置的示意图；

图8说明根据本发明的教示的电容转换的示意性电压-时间图；

图9说明根据本发明的特定实例实施例的电容转换及在此些转换期间的防护环电压 控制的示意性电压-时间图；

图10说明图7及7A中所展示的电容转换系统的示意性时序图；

图11及12说明根据本发明的特定实例实施例的电容转换的示意性过程流程图；

图13说明正在从恒定电流源充电的电容器的时间-电压曲线图；

图14说明根据本发明的另一特定实例实施例的具有用于多个电容性传感器及防护 环的CTMU处理能力的混合信号集成电路装置的示意图；

图15说明根据本发明的另一特定实例实施例的具有用于电容性传感器及相关联的 防护环的两阶段CTMU处理能力的混合信号集成电路装置的示意图；

图16说明根据本发明的另一特定实例实施例的具有用于多个电容性传感器及防护 环的CSM处理能力的混合信号集成电路装置的示意图；

图17说明根据本发明的教示的经由模拟通过门开关支持数字I/O及模拟功能的多功 能端口逻辑的示意性框图；

图18说明根据本发明的教示的多功能端口逻辑的示意性框图，所述多功能端口逻 辑经由模拟通过门开关支持数字I/O及模拟功能，其中可通过ADC控制器逻辑越权模 拟功能以对连接到端口的电容性触摸传感器预充电及放电；且

图19说明根据本发明的特定实例实施例的模拟及数字连接配置的示意性框图。

虽然本发明易具有各种修改及替代形式，但其特定实例实施例已在图式中展示且在 本文中详细描述。然而，应理解，本文中对特定实例实施例的描述不意欲将本发明限于 本文中所揭示的特定形式，而是相反，本发明意欲涵盖由附加权利要求书所界定的所有 修改及等效物。

具体实施方式

微控制器现包含增强对电容性传感器的检测及评估的周边装置。根据一实施例，电 容性分压(CVD)可用以评估是否已触摸电容性触摸元件。根据另一实施例，充电时间测 量单元(CTMU)可用以评估是否已触摸电容性触摸元件。根据另一实施例，电容性感测 模块(CSM)可用以评估是否已触摸电容性触摸元件。然而，在与所述电容性触摸元件相 关联的电容性传感器在高噪声环境中操作时，此些电容性测量系统中的分辨率或电容改 变检测可能不足够。

特定来说，寄生电容可在许多电容性传感器应用中造成问题。无论何时邻近于传感 器(或其到微控制器的连接)的导体处在不同于传感器的电压电位处，皆会产生寄生电容。 因此，需要减小电容性传感器的寄生电容，以便增加所得电容改变转换过程的分辨率。 根据本文中所揭示的各种实施例，可产生接近传感器电容且驱动置于传感器(及其连接) 与极接近于所述传感器的其它导体及/或接地平面之间的导电迹线的电压。

现参看图式，其示意性地说明特定实例实施例的细节。图式中的相同元件将由相同 数字表示，且类似元件将由具有不同小写字母字尾的相同数字表示。

参看图1，描绘根据本发明的教示的电子系统的示意性框图，所述电子系统具有电 容性触摸小键盘、电容性触摸模拟前端及数字处理器。微控制器集成电路装置101可包 括数字处理器106、存储器、输入输出(I/O)端口(节点)中的一者或一者以上、模/数转换 器(ADC)、精确计时器、多功能输入及输出节点、充电时间测量单元(CTMU)、多路复用 器、数/模转换器(DAC)或其组合。电容性触摸模拟前端(AFE)104可通过微处理器101 的前述功能中的一些来实施。电容性触摸AFE104可经由模拟多路复用器(未图示)耦合 到电容性传感器按键102(例如，按钮、控制杆、拨动开关、目标、把手、旋钮等)的矩 阵。

电容性触摸AFE104通过单一低成本集成电路微控制器来促进在确定何时存在通过 (例如，但不限于)按压且偏转目标按键(此改变相关联的电容性传感器的电容值)对电容性 传感器的致动的过程中所使用的所有作用中功能。电容性触摸AFE104测量电容性传感 器按键102的矩阵的每一传感器的电容值，且将电容值转换成相应模拟直流(DC)电压或 频率，其由模/数转换器(ADC)(未图示)或频率测量装置(未图示)读取且转换成数字值并 发送到数字处理器106。

数字处理器106将时钟及控制功能供应到电容性触摸AFE104，读取电容性触摸 AFE104的模拟电压检测器输出，且选择电容性传感器按键102的矩阵的每一按键。在 确定对电容性传感器按键102的矩阵中的按键的致动时，数字处理器106将采取适当动 作。各种电容性触摸系统的更详细描述在Microchip Technolog_y Incorporated的应用注解 AN1298、AN1325及AN1334中更全面地揭示，所述应用注解可在www.microchip.com处获得且特此为了所有目的以引用的方式并入本文中。

参看图2，描绘图1中所展示的电容性传感器按键的示意性立面图。衬底204(例如， 印刷电路板(PCB))可具有可用于电磁干扰(EMI)屏蔽的接地平面206(可选)。电容性传感 器板208可转置于衬底204的面上且接近于接地平面206(可选)。其它电路导体210(例 如，PCB迹线)还可极接近于电容性传感器板208。触摸目标212可位于电容性传感器板 208中的相应者之上且可在触摸目标212与电容性传感器板208中的所述相应者之间具 有气隙214。预期(且在本发明的范围内)如图2中所展示的触摸目标212可由改变电容 性传感器板208的电容的任何对象(例如，一片金属、手指、手、脚、腿等)替代。覆盖 层216可置于电容性传感器板208之上及/或为触摸目标212(可选)的部分，且具有雕刻 于其上的字母数字信息。电容性触摸按键108中的每一者包括传感器板208及覆盖层 216。电介质间隔物218位于电容性触摸按键108中的每一者之间。视情况地，触摸目 标212可被添加于每一相应传感器板208之上。

接地平面206(可选)及/或电路导体210可在不同于电容性传感器板208的电压电位 处。此情形在电容性传感器板208与极接近于电容性传感器板208的接地平面206(可选) 及/或电路导体210的部分之间产生寄生电容。对于在电容性传感器板208与处在不同电 压电位处的周围导体之间的静电场的示意性表示，参看图5。注意电容性传感器板208 与周围导体之间的强静电场线。此寄生电容限制在对电容性传感器板208的触摸期间发 生的电容性传感器板208的电容值的改变的检测分辨率。寄生电容类似地影响电容性传 感器板208与AFE104之间的连接。寄生电容还限制可在电容性触摸系统中使用的噪声 屏蔽的量。

参看图3，描绘根据本发明的特定实例实施例的图1中所展示且具有围绕电容性传 感器中的每一者的电容性防护环的电容性传感器按键的示意性立面图。将围绕电容性传 感器板208中的每一者的防护环320添加到电容性传感器按键102a。除此之外，所有其 它元件实质上与图2中所展示的电容性传感器按键102相同。通过在防护环320上维持 实质上与相应电容性传感器板208上的电压相同的电压，显著地减小了寄生电容。借此 增加了对电容器传感器板208被触摸期间发生的电容器传感器板208的电容值改变的检 测分辨率。另外，提供增强的噪声屏蔽不会如在图2中所展示的配置中那样影响检测分 辨率。对于电容性传感器板208、防护环320、周围接地平面206(可选)与导体210(未图 示)之间的静电场的示意性表示，参看图6，其中电容性传感器板208及防护环320是在 实质上相同的电压电位处。注意电容性传感器板208与周围导体及接地平面206(可选) 之间的弱得多的静电场线(较长的线)。在电容性传感器板208与防护环320之间实质上 不存在寄生电容，这是因为两者皆在实质上相同的电压电位处。

参看图4，描绘根据本发明的另一特定实例实施例的图1中所展示且具有围绕电容 性传感器中的每一者的防护环的电容性传感器按键的示意性平面图。触摸按键108的电 容性传感器板208中的每一者由电耦合在一起且具有相同电压电位的防护环420环绕。 在此配置下，一次仅确定一个电容性传感器板208的电容值，因此防护环420的整个矩 阵采取电容值由AFE104及数字处理器106确定(如下文中更全面地描述)的电容性传感 器板208的电压电位。

图3中所展示的防护环320中的每一者可独立于彼此且其上具有不同电压，但将要 求到数字处理器106的更多连接。因此除非需要同时确定一个以上电容性传感器板208 的同时电容读数，否则单电压电位防护环420(图4)将为足够的且要求到数字处理器106 的较少的电路连接。

参看图7，描绘根据本发明的特定实例实施例的具有用于电容性传感器及相关联的 防护环的CVD处理能力的混合信号集成电路装置的示意图。图7中所展示的混合信号 集成电路装置101a(例如，微控制器)可在使用确定电容性传感器板208的电容值的电容 分压器(CVD)方法时适用。通过首先确定未经触摸电容性传感器板208的电容值且接着 确定经触摸电容性传感器板208的随后的电容值，对彼电容性传感器板208的触摸可基 于其电容的改变来确定。在CVD中，将两个电容器充电/放电到相反电压值。接着，将 两个相反地充电的电容器耦合在一起且在连接的两个电容器上测量所得电压。CVD的更 详细解释呈现于共同拥有的第US2010/0181180号美国专利申请公开案中，所述案为了 所有目的以引用的方式并入本文中。图7中所展示的开关可为(例如，但不限于)场效应 晶体管(FET)开关。节点728及730为分别耦合到相应内部单线(导体)模拟总线732及734 的模拟节点。

电容性传感器板208的电容由可变电容器704(第一CVD电容器)表示，且第二CVD 电容器可在此两个电容器具有相当接近的电容值(例如1:1到约3:1)的情况下为取样与保 持电容器716。在CVD中此情形的原因在于来自一个电容器的电荷的部分被传送到不具 有电荷或具有相反电荷的另一个电容器。举例来说，在两个CVD电容器的值相等时， 一个电容器上的电荷的一半将被传送到另一个电容器。2对1的电容比将取决于最初对 电容器中的哪一者充电而导致电荷的1/3被传送到较小(1/2C)的电容器或被从较小的电 容器取走。在取样与保持电容器716实质上小于电容性传感器电容器704时，可从外部 添加额外电容706a到节点728，及/或可独立于节点728地添加内部电容706b以使得电 容器716、706a及/或706b的组合电容具有相对于电容性传感器电容704的电容值的足 以满足以上准则的电容。此情形导致使用CVD确定电容值时的最佳分辨率。电容器716 还为用以取样与保持在两个CVD电容器之间传送电荷之后所得的模拟电压的取样与保 持电容器。一旦电荷传送完成，则模/数转换器(ADC)718将所得充电电压转换成数字值， 所述数字值由数字处理器106读取以用于进一步处理且确定触摸传感器电容器704的电 容值。

在下文中呈现的实例中，与取样与保持电容器716相组合地选择电容器704(第一 CVD电容器)以及电容器706a(外部连接的电容器)及电容器706b的电容值以产生分别取 决于将第一CVD电容器704放电到Vss或充电到Vdd及将电容器706及716的组合充 电到Vdd或放电到Vss的为Vdd电压的1/3或2/3的组合电压。在此实例中，电容器704 的电容约为电容器706及716的并联组合的电容的两倍。在将两个相反极性充电的CVD 电容器耦合在一起之后所得的静态电压将在最初对电容器704放电到Vss时约为 1/3*Vdd，且在最初将电容器704充电到Vdd时约为2/3*Vdd。

视情况地，具有高输入阻抗的模拟缓冲器驱动器714可耦合到节点730，所述节点 还耦合到电容器704。模拟缓冲器驱动器714具有可经由开关J可切换地耦合到节点726 的低阻抗输出，节点726还耦合到防护环电容702。模拟缓冲器驱动器714的输出电压 如实地遵循到其的输入处的电压。因此，防护环320或420上的电压实质上遵循相应传 感器板208(数字处理器106正评估其电容值)上的电压。

参看图7A，描绘根据本发明的另一特定实例实施例的具有用于多个电容性传感器 及防护环的CVD处理能力的混合信号集成电路装置的示意图。图7A中所展示的混合信 号集成电路装置101b(例如，微控制器)以实质上与图7中所展示的装置101a相同的方式 执行，不同之处在于仅存在一个单一导线模拟总线732a；其中内部电容器706b及706c 通过开关H而与总线732a耦合/解耦，外部节点728通过开关G而与总线732a耦合/解 耦，且节点726通过开关J而与总线732a耦合/解耦。使用仅一组Vdd/Vss开关D及C， 其中在不同于对第二CVD电容器716(及706)放电/充电的时间周期期间对第一CVD电 容器704充电/放电。此情形节省了一组开关及第二内部模拟总线(参看图7总线734)。

另外，多个开关I(多路复用器)用以对用于图1中所展示的电容性触摸按键108中的 电容性传感器704中的每一者进行多路复用。此些电路特征还可并入到图7的电路中。 随着电容性触摸模拟前端104扫描电容性触摸按键108，模拟多路复用器开关I选择多 个传感器电容器704中的相应者。多个节点730通常为多用途可编程模拟或数字输入及 /或输出。为了解释的清楚起见，在本发明中，仅展示配置成模拟输入/输出(双程)的节点。

视情况地，具有高输入阻抗的模拟缓冲器驱动器714可在正在对多个电容器704中 的选定电容器704充电/放电时经由开关J耦合于节点726与单一导线模拟总线732a之 间。模拟缓冲器驱动器714具有耦合到节点726的低阻抗输出，节点726耦合到防护环 电容702。模拟缓冲器驱动器714的输出电压如实地遵循多个电容器704中的选定电容 器704上的电压。

关于图7及7A，预期(且在本发明的范围内)微控制器的各种实施例可包含外部节点 728以允许连接外部电容器706a，如上文中所解释。额外可调整电容器706b(及706c) 可在内部存在且可切换地耦合到模拟总线732a。然而，其它实施例可不提供此外部节点 728。替代地，电容716可具有适当值，或额外内部电容706b(例如，可变电容)连接到 或可连接到总线732。此外，因为每一外部节点726、728及730可经编程以支持多个功 能，所以额外开关(图7中未展示)可用以允许将节点726、728及730用于其它功能，如 下文中关于图17及18将更详细解释。

参看图8及9，描绘根据本发明的特定实例实施例的电容转换(图8)及在此些转换期 间的防护环电压控制(图9)的示意性电压-时间图。在区段I中，将电容器706及716(取 样与保持电容器)充电到Vdd，将电容性传感器电容器704及防护环电容702放电到Vss。 在区段II中，电容器706、716及704耦合在一起，且当未按下电容性触摸按键108时 将产生约为1/3*Vdd的静态电压，且当按下时将产生略小于1/3*Vdd的静态电压。防护 环电容702遵循电容器704(电容性传感器)上的电压以便最小化防护环电容702与电容 器704之间的任何寄生电容。在区段II的末尾处，取样与保持电容器716与电容器706 及704解耦且保持在区段II期间获得的静态电压。在区段III中，将电容器704(电容性 传感器)上的任何电压电荷放电到实质上Vss，接着在区段IV的开始处，将电容器704(电 容性传感器)及防护环电容702充电到实质上Vdd。同时还在区段IV中，在取样与保持 电容器716上存储的静态电压由ADC718转换成表示静态电压的数字值且由数字处理器 106读取。将来自ADC718的数字值用于确定是否致动(触摸)了电容性传感器，例如静 态电压是否低于预期得自未致动触摸传感器的静态电压。在致动(触摸)触摸传感器电容 器704的电容值时，其电容增加且从而随后的静态电压将小于未经致动的情况。此情形 在将电容器704初始化到Vss时为真。在将电容器704初始化到Vdd时，随后的静态电 压在未致动电容性传感器时约为2/3*Vdd。

在区段V中，将电容器706及716(取样与保持电容器)放电到Vss，且已经将电容 性传感器电容器704及防护环电容702充电到Vdd。在区段VI中，电容器706、716及 704耦合在一起，且当未按下电容性触摸按键108时将产生约为2/3*Vdd的静态电压， 且当按下时将产生略大于2/3*Vdd的静态电压。防护环电容702遵循电容器704(电容性 传感器)上的电压以便最小化防护环电容702与电容器704之间的任何寄生电容。在区段 VI的末尾处，取样与保持电容器716与电容器706及704解耦，且保持在区段VI期间 获得的静态电压。在区段VII中，将电容器704(电容性传感器)充电到实质上Vdd，接着 在区段VIII的开始处，将电容器704(电容性传感器)及防护环电容702放电到实质上Vss。 同时还在区段VIII中，在取样与保持电容器716上存储的静态电压由ADC718转换成 表示静态电压的数字值且由数字处理器106读取。将来自ADC718的数字值用于确定是 否致动(触摸)了电容性传感器，例如静态电压是否低于预期得自未致动触摸传感器的静 态电压。当致动(触摸)触摸传感器电容器704的电容值时，其电容增加且从而随后的静 态电压将大于未经致动的情况。此情形在将电容器704初始化到Vdd时为真。在将电容 器704初始化到Vss时，随后的静态电压在未致动电容性传感器时约为1/3*Vdd，如上 文中所描述。对于触摸按键108中的每一者重复此些序列。还通过每隔一个电容测量循 环就反转电压电荷极性且对电容测量值求平均，达成一类型的差动操作，所述差动操作 最小化共模噪声及干扰(例如，60Hz电力线干扰)。

参看图10，描绘图7中所展示的电容转换系统的示意性时序图。此示意性时序图清 楚地表示图7中所展示的电路的特定实例操作实施例。与开关A到F的操作性断开及闭 合组合有关地展示节点724、726、728及730上的电压。图10基本上表示与图9中所 展示者相同的电压及时序波形。预期(且在本发明的范围内)可使用具有相等效应的其它 及另外电路设计及时序图，且电子电路设计技术领域且获益于本发明的技术人员可复制 本文中所描述的结果。

参看图11及12，描绘根据本发明的特定实例实施例的电容转换的示意性过程流程 图。在步骤1102中，开始电容值转换。在步骤1104中，将电容器706及716的取样与 保持电容器组合充电到第一电压。在步骤1106中，将电容性传感器及电容性传感器防 护环充电到第二电压。第一电压可为Vdd且第二电压可为Vss，或第一电压可为Vss且 第二电压可为Vdd。将电容性传感器防护环充电到第二电压以便最小化寄生电容，寄生 电容原本会归因于由电容性传感器与邻近导体之间的电压电位差引起的静电电荷而产 生于电容性传感器处。

在步骤1112中，先前充电到第一电压的取样与保持电容器组合耦合到先前充电到 第二电压的电容性传感器。在步骤1114中，取样与保持电容器与电容性传感器耦合在 一起足够长时间以完全安定到共同静态第一电荷。接着在步骤1116中，使取样与保持 电容器与电容性传感器解耦，且取样与保持电容器其后保持所安定的第一电荷。在步骤 1118中，开始转换到存储于取样与保持电容器中的第一电荷的数字表示。

在步骤1120中，将电容性传感器及防护环简短地放电到第二电压。在步骤1122中， 将电容性传感器及防护环充电到第一电压。将电容性传感器防护环充电到第一电压以便 最小化寄生电容，寄生电容原本会归因于由电容性传感器与邻近导体之间的电压电位差 引起的静电电荷而产生于电容性传感器处。在步骤1126中，第一电荷到其数字表示的 转换终止且接着由数字处理器106读取以用于确定电容性传感器108的电容值。

在步骤1128中，将电容器706及716的取样与保持电容器组合充电到第二电压。 在步骤1130中，将电容性传感器及电容性传感器防护环充电到第一电压。将电容性传 感器防护环充电到第一电压以便最小化寄生电容，寄生电容原本会归因于由电容性传感 器与邻近导体之间的电压电位差引起的静电电荷而产生于电容性传感器处。

在步骤1136中，先前充电到第二电压位准的取样与保持电容器组合耦合到先前充 电到第一电压的电容性传感器。在步骤1138中，取样与保持电容器组合与电容性传感 器耦合在一起足够长时间以完全安定到静态第二电荷。接着在步骤1140中，使取样与 保持电容器与电容性传感器解耦，且取样与保持电容器其后保持所安定的第二电荷。在 步骤1142中，开始转换到存储于取样与保持电容器中的第二电荷的数字表示。

在步骤1144中，将电容性传感器及防护环简短地放电到第一电压。在步骤1146中， 将电容性传感器及防护环充电到第二电压。将电容性传感器防护环充电到第二电压以便 最小化寄生电容，寄生电容原本会归因于由电容性传感器与邻近导体之间的电压电位差 引起的静电电荷而产生于电容性传感器处。在步骤1150中，第二电荷到其数字表示的 转换终止且接着由数字处理器106读取以用于确定电容性传感器108的电容值。其后可 处理第一及第二电荷的数字表示以减小共模噪声及干扰(例如，60Hz电力线干扰)。

参看图14，描绘根据本发明的另一特定实例实施例的具有用于多个电容性传感器及 防护环的CTMU处理能力的混合信号集成电路装置的示意图。图14中所展示的混合信 号集成电路装置101c(例如，微控制器)可包括一包括精确计时器1420、取样与保持电路 1416、恒定电流源1422及电流导引开关1424的充电时间测量单元(CTMU)；模/数转换 器(ADC)1418及具有存储器的数字处理器1406。节点726处的电压将遵循信号导线模拟 总线1432上的电压，如上文中更全面地描述。视情况地，具有高输入阻抗的模拟缓冲 器驱动器714可耦合于节点726与单一导线模拟总线1432之间。模拟缓冲器驱动器714 具有耦合到节点726的低阻抗输出，节点726耦合到防护环电容702。模拟缓冲器驱动 器714的输出电压如实地遵循多个电容器704中的选定电容器704上的电压。

将多个开关I(多路复用器)用以对用于图1中所展示的电容性触摸按键108中的电容 性传感器704中的每一者进行多路复用。随着电容性触摸模拟前端104扫描电容性触摸 按键108，模拟多路复用器开关I选择多个传感器电容器704中的相应者。多个节点730 通常为多用途可编程模拟或数字输入及/或输出。节点726及多个节点730可经编程以支 持多个功能，如下文中将针对图17及18中所展示的电路更详细地解释。为了解释的清 楚起见，在本发明中，仅展示配置成模拟输入/输出(双程)的节点。

CTMU的功能可更好地通过参看图13来理解，其中描绘正在从恒定电流源充电的 电容器的时间-电压曲线图。当经由恒定电流源1422对电容器704充电时，横跨电容器 704的电压V根据方程式(1)随时间而线性地增加：

I＝C*dV/dT   方程式(1)

其中C为电容器704的电容值，I为来自恒定电流源1422的电流，且V为在时间T 处在电容器704上的电压。当已知电流I、时间T及电压V中的任何两个值时，可从两 个已知值计算另一未知值。举例来说，若已知来自恒定电流源1422的充电电流及在电 压V₁处的T₁与电压V₂处的T₂之间的时间间隔，则可使用上文方程式(1)来确定电容器 704的电容。

数字处理器1406使得CTMU的精确计时器1420能够开始对恒定电流源1422对电 容器730的充电的精确计时。在第一时间处，精确计时器1420闭合开关1424a且断开 开关1424b及1424c，借此开始对电容器704的恒定电流充电。恒定电流源1422对电容 器704充电，在电容器704上产生线性增加的电压(参看直到第二时间为止的图13的电 压-时间曲线图)。在第二时间处，取样与保持电路1416获取电容器730上的电压电荷的 电压样本。其后，精确计时器1420断开开关1424a且闭合开关1424b及1424c。电容器 704上的电压电荷在零电压处开始且归因于开关1424c闭合而返回到零电压。将来自精 确计时器1420的经过时间发送到数字处理器1406。ADC1418将来自取样与保持电路 1416的经取样电压转换成其数字表示且将彼数字表示发送到数字处理器1406。数字处 理器1406使用来自精确计时器1420的经过时间及来自ADC1418的经取样电压的数字 表示、根据上文的方程式(1)来确定电容器704的电容值。对于电容性触摸按键108中的 每一者，重复地继续此过程。

CTMU更全面地描述于可在www.microchip.com处获得的Microchip应用注解 AN1250及AN1375以及均为James E.Bartling的标题为“测量长时间周期(Measuring a  long time period)”的共同拥有的第US7,460,441B2号美国专利及标题为“电流时间数/ 模转换器(Current-time digital-to-analog converter)”的第US7,764,213B2号美国专利中； 其中所有所述文献特此为了所有目的而以引用的方式并入本文中。

混合信号集成电路装置101c可进一步包括多个输入/输出节点742、耦合到多个输 入/输出节点742的可编程接收器/驱动器740，及耦合到可编程接收器/驱动器740的模 拟多路复用器738。数字处理器106控制可编程接收器/驱动器740且可借此将多个输入 /输出节点742中的任何一者或一者以上配置为模拟输入、数字输入、模拟输出(DAC未 图示)及/或数字输出。多路复用器738由数字处理器106控制且可用以将ADC718的输 入耦合到经配置为模拟输入的多个输入/输出接点742中的任一者。多路复用器738还可 用以将模拟模块(未图示)(例如，ADC、数/模转换器(DAC)、比较器、运算放大器等)耦 合到适当地经配置为模拟输入或输出的多个输入/输出节点742中的任何一者或多者。

参看图15，描绘根据本发明的另一特定实例实施例的具有用于电容性传感器及相关 联的防护环的两阶段CTMU处理能力的混合信号集成电路装置的示意图。图15中所展 示的混合信号集成电路装置101d(例如，微控制器)可包括一包括精确计时器1420、取样 与保持电路1416、第一恒定电流源1422、第一电流导引开关1424、第二恒定电流源1536、 第二电流导引开关1534的充电时间测量单元(CTMU)；反转开关1532、模/数转换器 (ADC)1418及具有存储器的数字处理器1406。节点726处的电压将遵循节点730处的电 压，如上文中更全面地描述。图14中所展示的电路特征还可并入到图15的电路中。

数字处理器1406进行如针对图14中所展示的电路所描述的第一电容测量序列。接 着，数字处理器1406将电容测量反转开关1532从位置a(操作与图14中所展示的电路 相同)改变到位置b。现闭合开关1534b及1534c，将电容器704充电到Vdd。数字处理 器1406接着使得CTMU的精确计时器1420能够开始对恒定电流源1536对电容器730 的放电的精确计时。

在第一时间处，精确计时器1420闭合开关1534a且断开开关1534b及1534c，借此 开始对电容器704的恒定电流放电。恒定电流源1536对电容器704放电，在电容器704 上产生线性减小的电压。在第二时间处，取样与保持电路1416获取电容器730上的电 压电荷的电压样本。其后，精确计时器1420断开开关1534a且闭合开关1534b及1534c。 电容器704上的电压电荷在Vdd伏特处开始，且归因于开关1534b闭合而返回到Vdd 伏特。将来自精确计时器1420的经过时间发送到数字处理器1406。ADC1418将来自取 样与保持电路1416的经取样电压转换成其数字表示，且将彼(第二转换)数字表示发送到 数字处理器1406。数字处理器1406使用来自精确计时器1420的经过时间及来自ADC 1418的经取样电压的数字表示、根据上文的方程式(1)来确定电容器704的第二电容值。 其后可处理来自第一及第二转换(第一充电、第二放电)的数字表示以减小共模噪声及干 扰(例如，60Hz电力线干扰)。对于电容性触摸按键108中的每一者，重复地继续此过程。

参看图16，描绘根据本发明的另一特定实例实施例的具有用于多个电容性传感器及 防护环的CSM处理能力的混合信号集成电路装置的示意图。图16中所展示的混合信号 集成电路装置101e(例如，微控制器)可包括可变频率振荡器1618、频率测量电路1620 及数字处理器1620。可选模拟缓冲器驱动器714如上文中更全面描述地起作用。多个电 容器704中的选定者为可变频率振荡器1618的频率确定电路的部分，且随着所述电容 器704的电容值改变，所得频率也改变。频率测量电路1620测量来自可变频率振荡器 1618的频率且以由数字处理器1620读取的数字格式提供经测量频率，数字处理器1620 接着确定频率改变的量。频率的足够大改变将指示选定电容器704的电容值已改变，其 指示相关联的电容性触摸按键108经致动。使用频率的电容性测量系统更全面地描述于 Jerry Hanauer及Todd O'Connor的标题为“多点触摸输入装置中的互电容测量(Mutual  Capacitance Measurement in a Multi-Touch Input Device)”的共同拥有的第US 2011/0267309号美国专利申请公开案中；所述公开案特此为了所有目的以引用的方式并 入本文中。

将多个开关I(多路复用器)用以对用于图1中所展示的电容性触摸按键108中的电容 性传感器704中的每一者进行多路复用。随着电容性触摸模拟前端104扫描电容性触摸 按键108，模拟多路复用器开关I选择多个传感器电容器704中的相应者。多个节点730 通常为多用途可编程模拟或数字输入及/或输出。为了解释的清楚起见，在本发明中，仅 展示配置成模拟输入/输出(双程)的节点。

参看图17，描绘根据本发明的教示的经由模拟通过门开关支持数字I/O及模拟功能 的多功能端口逻辑的示意性框图。具有三态输出的数字驱动器1754耦合到外部节点728 且由来自(例如，但不限于)数字处理器106的三态控制信号控制。来自(例如，但不限于) 数字处理器106的数字输出信号耦合到数字驱动器1754的输入。

(例如)可实施图7A中的开关G的模拟通过门开关1750由模拟开关逻辑1752控制， 模拟开关逻辑1752可由来自(例如，但不限于)数字处理器106的模拟总线控制信号独立 于ADC通道选择地控制。通常，内部ADC的模拟多路复用器经配置以仅允许多个开关 中的一者闭合以使得一次仅将外部接脚中的一者连接到内部ADC。然而，根据另一实施 例，ADC的模拟多路复用器可经配置以允许一个以上开关可受到控制以将外部接脚连接 到模拟总线。因此，控制逻辑1752及模拟通过门开关1750可独立于模拟多路复用器地 受到控制，或可为模拟多路复用器的部分。模拟通过门开关1750在闭合时使得节点728 能够直接耦合到模拟总线1732，如上文中更全面地描述。在模拟通过门开关1750闭合 时，三态控制使数字驱动器1754的输出进入高阻抗状态，借此在节点728用作模拟端 口时最小程度地影响节点728。预期(且在本发明的范围内)可根据本文中所描述的其它 实施例包含其它功能。

参看图18，描绘根据本发明的教示的多功能端口逻辑的示意性框图，所述多功能端 口逻辑经由模拟通过门开关支持数字I/O及模拟功能，其中另外，可通过ADC控制器 逻辑越权模拟功能以对连接到端口的电容性触摸传感器预充电及放电。此端口逻辑可用 于外部接脚730中的任一者，且在模拟多路复用器经配置以允许一个以上开关被闭合时 接着还用于接脚728。在节点730处的数字功能与模拟功能之间的切换可为处理器密集 型的且可要求复杂的程序来恰当地处置要求节点730具有的所有有关数字及模拟功能， 如上文中更全面地描述。为了在每一电容性传感器的电容值的设定及确定(例如，图8 到12)期间免除处理器106的负载(例如，程序步骤及/或控制功能)，可将ADC越权特征 并入到本文中所描述的电容性触摸确定电路中。使用并入有图18中所展示的电路功能 的专用ADC控制器将节省数字处理器程序步骤且允许处理器在电容性传感器电容的确 定期间执行其它功能。然而，根据其它实施例，还可省略越权功能。而且，根据又其它 实施例，可组合如图17及18中所展示的端口逻辑以产生用于每一外部接脚的通用端口 逻辑，如(例如)图7A中所展示。因此，用于所有外部接脚的通用端口逻辑可具有可被 独立控制以连接到模拟总线的两个通过门，或可具有允许由独立启用信号控制的为模拟 多路复用器的部分的单一通过门。

具有三态输出的数字驱动器1854耦合到外部节点730且由来自多路复用器1858的 三态控制信号控制。来自多路复用器1860的数字输出信号耦合到数字驱动器1854的输 入。可实施图7A中的开关I的模拟通过门开关1850由模拟开关逻辑1852控制。当ADC 越权启用信号处在逻辑低时，多路复用器1858耦合三态控制信号以控制数字驱动器1854 的三态输出，且多路复用器1860将数字输出信号耦合到数字驱动器1854的输入。ADC 通道选择(模拟总线控制)控制模拟通过门开关1850以便将节点730直接耦合到模拟总线 732，如上文中更完全地描述。在此配置下，图18中所展示的电路以实质上与图17中 所展示的电路相同的方式起作用。

然而，当ADC越权启用信号处在逻辑高时，多路复用器1858耦合ADC越权数据 启用信号以控制数字驱动器1854的三态输出，且多路复用器1860将ADC越权数据信 号耦合到数字驱动器1854的输入。模拟通过门开关1850被迫将模拟总线732与节点730 解耦。在此配置下，ADC越权数据启用信号及ADC越权数据信号可由ADC逻辑控制 器(未图示)提供，且可用以在不要求来自数字处理器106的程序密集型动作的情况下对 耦合到节点730的电容性触摸传感器充电或放电。

可如上文所解释，如图17或图18中所展示实施节点726及728的端口逻辑。可如 图18中所展示实施多个节点730。如上文所提及，通用端口可用于所有外部接脚。可根 据相应外部接脚实施例如额外驱动器714或其它逻辑或电路的额外功能以支持其它功能 性。

参看图19，描绘根据本发明的特定实例实施例的模拟及数字连接配置的示意性框 图。多个模拟通过门开关1938可实施模拟多路复用器，且将多个节点730x耦合到模拟 总线732及使多个节点730x与模拟总线732解耦，例如选择多个电容性触摸传感器中 的每一者。将节点728与模拟总线732耦合在一起的直接连接(例如，参看图7)，或可 选模拟通过门开关1936可将节点728耦合到模拟总线732及使节点728与模拟总线732 解耦(例如，参看图7A)。如上文所解释，若多路复用器经设计以允许一个以上开关被闭 合，则额外通过门开关1936可为模拟多路复用器的部分。多个开关1934可将额外取样 与保持电容器1944耦合到模拟总线732及使额外取样与保持电容器1944与模拟总线732 解耦。开关1940可用以将模拟总线732充电到Vdd，且开关1942可用以将模拟总线732 放电到Vss。

虽然已描绘、描述及参考本发明的实例实施例界定了本发明的实施例，但此些参考 并不暗示对本发明的限制，且不应推导出此类限制。如相关技术领域并获益于本发明的 技术人员将想到，所揭示的标的物能够在形式上及功能上具有相当大的修改、变更及等 效物。本发明的所描绘及描述的实施例仅为实例，且并非为详尽无遗的本发明范围。