首页> 中国专利> 基于稀疏表征的前视阵列SAR超分辨成像方法

基于稀疏表征的前视阵列SAR超分辨成像方法

摘要

本发明公开了一种基于稀疏表征的前视阵列SAR超分辨成像方法,主要解决现有前视成像算法物理难实现且系统成本高的问题。其实现过程是:(1)以双基模式接收合成孔径雷达回波数据,并按照单基模式修改回波信号;(2)对修改后的回波信号进行距离脉冲压缩和方位维解线调频处理;(3)基于观测场景和成像目标的稀疏特性,将处理后的信号通过最大后验概率估计方法构建SAR成像的代价函数;(4)利用更新的拟牛顿算法来求解代价函数得到前视阵列SAR的超分辨成像结果。本发明能在有限阵列长度的条件下获得高分辨率前视成像结果,有效降低系统的成本和复杂度,可用于目标探测、地形勘测、制导、城市规划以及环境勘测。

著录项

  • 公开/公告号CN103869316A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201410119829.3

  • 申请日2014-03-27

  • 分类号G01S13/90(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华;朱红星

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2024-02-20 00:11:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-07

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01S13/90 申请公布日:20140618 申请日:20140327

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-07-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/90 申请日:20140327

    实质审查的生效

  • 2014-06-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号