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用于样品光热研究的设备和方法

摘要

本发明涉及一种用于样品(12)的光热研究的装置(10),该装置带有用于产生指向样品(12)的激励面的电磁激励射束(18)的激励源(14,20,22),用于检测由样品(12)的检测面发射出的热辐射(26)的探测器(28),和温度可控制的样品腔(36),该样品腔包括容纳在其中的样品保持器(13),用于样品(12)的放置和温度控制。根据本发明,作出了这样的设置,使得可调节的检测光学系统(32)设置在样品保持器(13)和探测器(28)之间,所述检测光学系统是可调节的,以调节在样品表面上的探测器(28)的期望视域。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-06

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/66 申请公布日:20140212 申请日:20130731

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/66 申请日:20130731

    实质审查的生效

  • 2014-02-12

    公开

    公开

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