以X射线单次测量实现对称性微纳米样品三维成像的方法

摘要

本发明公开了以X射线单次测量实现对称性微纳米样品三维成像的方法，是以相干X射线衍射显微镜为成像设备，利用X射线自由电子激光全相干，高通量和短脉冲的特点，通过采集单脉冲照射下对称性微纳米样品的二维衍射数据，根据对称性样品本身的晶体学对称性，计算其衍射数据的自身等价线，确定出样品的空间取向，利用样品的空间对称性，对二维衍射数据进行其所属晶体学点群的对称操作，获得样品的三维衍射数据，再利用过度取样和迭代算法对三维重组衍射数据进行相位恢复和图像重建，最终得到对称性样品三维结构。本发明方法仅需要一次测量即可实现样品的三维重建，有效提高了三维成像实验效率，对于丰富三维成像方法提供了新思路。