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增益校正式测量值

摘要

一种用以获得增益校正式测量值的方法。提供了一种具有一个或多个阵列的测量工具,其中所述阵列包括两个共定位式三轴发射器和两个共定位式三轴接收器。使用发射器和接收器来获得测量值。由所述已获得的测量值形成阻抗矩阵,且将所述阻抗矩阵相组合以提供增益校正式测量值。设备可或者为具有一个或多个阵列的随钻测井工具,其中每一个阵列包括发射器、接收器和降压件,且其中所述接收器接收到的信号从所述降压件接收到的信号中减去,反之亦然。切槽式屏蔽物可被并入所述工具的任一实施方案中。切槽可形成一个或多个岛元件。材料被安置于所述切槽中。所述岛和所述屏蔽物主体具有将所述岛限于所述屏蔽物主体内的互补锥形侧面。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-09

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01V3/28 申请公布日:20130424 申请日:20110427

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V3/28 申请日:20110427

    实质审查的生效

  • 2013-04-24

    公开

    公开

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