颗粒分析装置和颗粒分析方法

摘要

本发明提供分析颗粒物性等的颗粒分析装置和方法，在散射光发生异常时，能避免装置损伤等且迅速再次开始分析。包括：光出射部，向分散介质中运动的颗粒群射出光；光接收部，接收光照射的颗粒群发出的散射光并输出电流信号；数据处理部，根据从电流信号得到的脉冲数的时序数据，进行颗粒分布的数据处理；过电流检测部，根据光接收部输出的电流信号检测光接收部流过过电流；以及控制部，当过电流检测部检测到过电流时，停止光接收部的动作，且在光接收部动作停止规定时间后再次开始光接收部的动作，数据处理部在光接收部动作停止时保存停止前为止的时序数据，在光接收部再次开始动作后，利用保存的时序数据和再次开始后得到的时序数据进行数据处理。