等离子显示屏制造过程中最佳工艺参数组合的确定方法

摘要

本发明公开了一种等离子显示屏制造过程中最佳工艺参数组合的确定方法，包括如下步骤：步骤一，对等离子屏生产过程数据进行二元化处理，产生一个数据集合；步骤二，确定所有满足最小支持度的参数的取值状态组合；步骤三，从最小支持度的参数的取值状态组合中确定关联的参数取值状态。本发明的积极效果是：利用数据挖掘中关联规则分析方法挖掘出等离子显示屏制造过程中的最佳参数组合，有效代替人工分析调控，填补了分析等离子显示屏制造过程中重要工艺参数组合的空白。

说明书

技术领域

本发明涉及一种等离子显示屏制造过程特性的数据挖掘技术，尤其是涉及等离子显示屏制造过程中最佳工艺参数组合的确定方法。 

背景技术

等离子显示屏制造过程的参数控制直接影响着等离子显示屏的品质，传统的参数相关性分析方法很少有可以借鉴相关行业的分析方法，因此需要开发出一种旨在针对等离子显示屏制造的特有分析方法的分析软件。 

随着市场需求的日益提高，制造行业的竞争越发激烈。相应的，制造流程变得愈加复杂。制造行业难以单纯依赖人工对制造工艺，特别是其中涉及的制造工艺参数组合进行管控。具体的说，不同的制造工艺参数组合将会直接导致制造结果的差异。而良好的参数组合具有显著提高成品质量的功效。在等离子显示屏制造中，如何快速有效地针对某一或者全部制造过程找出提高产品质量以及数量的参数组合则成为了摆在制造商面前的难题。 

数据挖掘中的关联规则分析已经被证明是可以通过关联相关商品帮助零售行业有效提高销售业绩的方法。考虑到相关制造参数组合与相关商品挖掘这两个问题的相似性，关联规则分析有能力帮助等离子显示屏制造过程设定良好的工艺参数组合，并且规避不良的参数组合。然后，在目前的等离子显示屏制造行业中，尚没有利用关联分析帮助寻找重要工艺参数组合的方法。 

发明内容

为了克服现有技术的上述缺点，本发明提供了一种等离子显示屏制造过程中最佳工艺参数组合的确定方法。 

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种等离子显示屏制造过程 中最佳工艺参数组合的确定方法，包括如下步骤： 

步骤一，对等离子屏生产过程数据进行二元化处理，产生一个数据集合； 

步骤二，确定所有满足最小支持度的参数的取值状态组合； 

步骤三，从最小支持度的参数的取值状态组合中确定关联的参数取值状态。 

与现有技术相比，本发明的积极效果是：利用数据挖掘中关联规则分析方法挖掘出等离子显示屏制造过程中的最佳参数组合，有效代替人工分析调控，填补了分析等离子显示屏制造过程中重要工艺参数组合的空白。 

具体实施方式

一种等离子显示屏制造过程中最佳工艺参数组合的确定方法， 

（1）原始数据来源于等离子显示屏制造流程。 

（2）关联规则挖掘过程依赖于等离子显示屏制造领域专家的专业知识。 

（3）关联规则结果被用于对等离子显示屏制造过程进行有效管控，以达到提升产品质量，降低疵品率的目的。 

定义I={i₁，i₂，…，i_N}代表n个二元参数属性，i_n代表一个参数及其取值的配对。D={t₁，t₂，…，t_m}代表m张等离子屏的生产过程参数状态，t_m表示第m号等离子屏生产过程中各个参数的取值状态组合，比如t_m={i₃，i₈，…，i₄₅}。 

具体步骤如下： 

步骤一，对等离子屏生产过程数据（即对生产数据中参数及其取值）进行二元化处理。比如： 

i₁=1表示a=153，i₁=0表示参数a≠153， 

i₂=1表示参数b=4.6，i₂=0表示参数b≠4.6。 

二元化处理后会产生一个比源数据更加庞大的数据集合。 

步骤二，确定所有满足最小支持度的参数的取值状态组合： 

为了从步骤一产生的数据集合中发现有意义的参数组合，关联规则挖掘技术被应用于上述任务中。两种评估因素用于衡量参数的取值状态组合的重要性，其中一种评估因素是： 

支持度（Support）：supp(X)表示对一组参数的取值状态组合X的支持度，即整个待分析等离子屏数据集中包含了特定参数的取值状态组合X的组合数量占总共等离子屏数的比例。 

根据事先设定的支持度阈值s（该阈值可根据等离子显示屏制造领域专家的专业知识和经验进行设定），对组合X进行循环扩充，即不断加入新的参数取值状态。扩充的原则是，每次扩充得到的新X′满足supp（X′）＞s，从而确定所有满足最小支持度的参数的取值状态组合。 

步骤三，从最小支持度的参数的取值状态组合中确定关联的参数取值状态： 

两种评估因素用于衡量参数的取值状态组合的重要性，除了步骤二所述的支持度外，另一种评估因素是： 

自信度（Confidence）：conf（X→Y）=supp）X∪Y）/supp（X），表示由一 组参数的取值状态组合X关联到另一组参数的取值状态组合Y的量度。 

根据事先设定的自信度阈值c（该阈值可根据等离子显示屏制造领域专家的专业知识和经验进行设定），从最小支持度的参数的取值状态组合中确定关联的参数取值状态，即： 

（1）先按如下公式计算自信度： 

conf(X→Y)=supp(X∪Y)/supp(X)， 

（2）判断conf(X→Y)＞c是否成立，如果成立，则该组参数组合将被采纳，反之，该组参数组合将被剔除。 

通过以上方法步骤，从各个参数的取值状态出发计算出了具有指导意义的参数值和等离子屏等级的关联关系，并能够很容易地应用到等离子屏不良代码的分析中。 

以下是上述方法的示例说明，下表给出了一个计算支持度和可信度的具体例子： 

屏编号 para1=37 para2=9.5 para2=140 para4=G 1 1 1 0 0 2 0 0 0 1 3 0 0 1 0 4 1 1 0 1 5 0 1 1 0

t₁={Para1=37，para2=9.5，para4=G} 

supp(t₁)=1/5=0.2 

$\mathrm{conf}\left(\right\{\mathrm{para}1=37,\mathrm{para}2=9.5\}\to \{\mathrm{para}4=G\left\}\right)=\frac{0.2}{0.4}=0.5$

如果人工设定的自信度阈值为0.4，那么以上规则将被采纳；如果自信度阈值为0.6，那么以上规则将被剔除。这个阈值的设定可以按照数据集本身的情况根据分析人员的经验灵活调整。