首页> 中国专利> 切片式高能离子束辐射成像系统

切片式高能离子束辐射成像系统

摘要

本发明公开了一种切片式高能离子束辐射成像系统,包括能量衰减器、样品靶架装置和辐射图像获取装置;所述能量衰减器:对入射的高能离子能量进行精确调节;所述样品靶架装置:固定支撑样品并将样品的背景光线屏蔽;所述辐射图像获取装置:将上述经过能量衰减器调整后的高能离子束经过样品后投影的图像进行捕获。即利用一个前置式的可微调的能量衰减器,对不同能量的入射离子束产生辐射图像进行系统性纪录,并对得到的图像进行处理,对所纪录的不同辐射图像进行数学运算,以实现增强辐射图像对比度和对目标内部纵向分层结构信息的获取,最终得到目标样品的内部详细信息。达到操作简单、快捷并且辐射图像分辨率高、对比度好的目的。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-23

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/04 申请公布日:20130424 申请日:20121218

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20121218

    实质审查的生效

  • 2013-04-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号