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集成电路封装的电、热特性协同设计方法与流程

摘要

本发明公开了一种集成电路封装的电、热特性协同设计方法与流程。其特征在于在设计阶段充分考虑封装设计的热、电学特性对集成电路性能的影响,同时与核心的集成电路设计进行协同优化,可以根据成本和实现复杂度等因素从封装设计和电路设计两方面优化系统性能,提高封装设计的灵活性。设计方法及流程主要包括封装的物理设计,电学参数提取,热学参数提取,集成电路设计,考虑封装和集成电路的混合模式仿真,输出满足设计要求的集成电路设计及封装的物理设计。

著录项

  • 公开/公告号CN103186681A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-07-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海北京大学微电子研究院;

    申请/专利号CN201110449674.6

  • 发明设计人 刘少龙;程玉华;

    申请日2011-12-29

  • 分类号G06F17/50;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 上海市浦东新区盛夏路608号

  • 入库时间 2024-02-19 18:48:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-19

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20130703 申请日:20111229

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-07-03

    公开

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