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等离子体控制装置、流量控制装置及流量控制用方法

摘要

本发明提供等离子体控制装置、流量控制装置及流量控制用方法,即使应导入真空室内的导入气体的流量值大,也能在所述流量值附近的狭窄区间内高速地控制流量,例如能将真空室内的等离子体持续保持在所希望的状态,能维持用于成膜等的最佳状态。等离子体控制装置包括:第一阀,设在第一流路上,导入真空室内的导入气体流过第一流路;第一阀控制部,控制第一阀的开度,使得经由第一阀导入真空室内的导入气体的流量成为第一流量;等离子体监测器;第二阀,设于导入气体流过的第二流路上;第二阀控制部,根据由等离子体监测器测量到的测量等离子体强度与预先设定的设定等离子体强度的偏差,对第二阀的开度进行控制。

著录项

  • 公开/公告号CN103014637A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社堀场STEC;

    申请/专利号CN201210297388.7

  • 发明设计人 绀野象二郎;南新吾;水口秀;

    申请日2012-08-20

  • 分类号C23C14/34(20060101);C23C14/54(20060101);

  • 代理机构11290 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人周善来;李雪春

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2024-02-19 17:57:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-26

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):C23C14/34 申请公布日:20130403 申请日:20120820

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2014-10-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C14/34 申请日:20120820

    实质审查的生效

  • 2013-04-03

    公开

    公开

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