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基于图像重叠的选择性平面照射显微成像伪影去除方法

摘要

一种基于图像重叠的选择性平面照射显微成像伪影去除方法,包括:针对焦平面上同一位置图像,竖直提升样本,对样本同一位置进行多次成像;将所述同一位置的多幅图像,通过加权平均减少噪声,得到样本的整体图像。本发明可实现选择性平面照射显微成像中,图像噪声、条状伪影和散射模糊的抑制,提高成像的质量。

著录项

  • 公开/公告号CN102982521A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-03-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN201210526194.X

  • 发明设计人 田捷;董迪;杨鑫;郭进;

    申请日2012-12-07

  • 分类号G06T5/50(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人戎志敏

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村东路95号

  • 入库时间 2024-02-19 17:52:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-01

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06T5/50 申请公布日:20130320 申请日:20121207

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-04-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T5/50 申请日:20121207

    实质审查的生效

  • 2013-03-20

    公开

    公开

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