光芯片上多级交错马赫曾德干涉仪中可控相移器标定方法

摘要

本发明公开了一种光芯片上多级交错马赫曾德干涉仪中可控相移器标定方法，目的是解决多级交错马赫曾德干涉仪结构可配置光学网络中可控相移器的标定问题。技术方案是先标定光学网络中可以标定的可控相移器；然后对未标定的内相移器构造标定条件并进行标定；最后对未标定的外相移器构造标定条件并进行标定。本发明在不增加任何硬件的情况下，适用于任意级数和任意结构的多级交错马赫曾德干涉仪结构可配置光学网络中的可控相移器参数标定任务，减少了用于标定的硬件对多级交错马赫曾德干涉仪光学网络带来的损耗，降低了光芯片制造难度；采用本发明极大提升了标定效率，可促进多级交错马赫曾德干涉仪结构光学网络的应用。