脑功能测量装置和脑功能测量方法

摘要

提供一种脑功能测量装置和脑功能测量方法，能够使校准作业变得不需要或者抑制在最小限度。为了解决本技术问题，提供一种脑功能测量装置，具备：第一光照射探头(S1)，向被检体的脑照射光；第一光检测探头(D1)，与第一光照射探头(S1)相邻设置，对从第一光照射探头(S1)所照射的光中被脑反射的光进行检测；第二光照射探头(S2)，与第一光检测探头(D1)相邻设置，向被检体的脑照射光；第二光检测探头(D2)，与第二光照射探头(S2)相邻设置，对从第二光照射探头(S2)所照射的光中被脑反射的光进行检测；以及控制部(3)，对由第二光照射探头(S2)照射的光量进行调节，以使在第一光检测探头(D1)与第二光照射探头(S2)之间的通道所测量到的光量达到在第一光照射探头(S1)与第一光检测探头(D1)之间的通道所观测到的观测值，并且对由第二光检测探头(D2)检测的光量进行调节，以对第二光照射探头(S2)与第二光检测探头(D2)之间的通道所测量到的光量达到上述观测值。