集成电路中的动态扫描链重新配置

摘要

一种用于具有多个扫描链(108)的集成电路(IC)(100)的示例测试电路(103)包括：第一电路(102)和第二电路(104)；以及扫描链路由器(106)，耦合在第一电路与多个扫描链之间，并且耦合在第二电路与多个扫描链之间，扫描链路由器响应于使能信号：(1)将第一电路耦合到多个扫描链中的每个扫描链；或者(2)将第二电路耦合到一个或多个级联扫描链(109)，其中每个级联扫描链包括多个扫描链中的两个或更多个扫描链的级联。