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一种光谱测量系统及多外差拍频信号探测及数据处理方法

摘要

本发明公开了一种光谱测量系统及多外差拍频信号探测及数据处理方法,属于红外光谱分析领域,光谱测量系统包括光源梳、本振梳、样品室、反射镜、红外探测器以及数据采集卡和计算机;本发明方法可实现基于双光频率梳多外差拍频方法的红外光谱高速测量系统,产生的多外差拍频光学信号的高速、高灵敏度探测即数据采集,并得到待测样品的光谱信息,满足化学、生物、集成芯片材料、特种功能新材料等领域的瞬变态过程及瞬变产物等领域的研究需求。

著录项

  • 公开/公告号CN110553993A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中电科仪器仪表有限公司;

    申请/专利号CN201910737427.2

  • 申请日2019-08-12

  • 分类号G01N21/35(20140101);

  • 代理机构37252 青岛智地领创专利代理有限公司;

  • 代理人种艳丽

  • 地址 266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号

  • 入库时间 2024-02-19 15:39:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/35 申请日:20190812

    实质审查的生效

  • 2019-12-10

    公开

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