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储集层微电阻成像生成孔隙度谱的方法

摘要

本发明公开了一种储集层微电阻成像生成孔隙度谱的方法,包括以下步骤:S1、根据采集的储集层的微电阻率成像测井数据获取微电阻率成像测井图像;S2、获得与浅侧向电阻率纵向分辨率一致的纽扣电极平均曲线;S3、获得经浅侧向刻度后的微电阻率成像测井纽扣电极接触井壁岩层的电阻率曲线;S4、计算获得微电阻率成像纽扣电极对应的孔隙度;S5、计算获得微电阻率成像对应的孔隙度谱的幅度值;S6、根据多个区间的幅度值,获得微电阻率成像对应的孔隙度谱。本发明得到的孔隙度谱分布与核磁T2谱之间具有良好的一致性,从而实现储集层物性好坏的连续评价。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):E21B49/00 申请日:20190815

    实质审查的生效

  • 2019-11-12

    公开

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